高電圧絶縁計測＋100n秒以下の高速イベント収録
高電圧絶縁信頼性試験装置　HVUαシリーズ

製品の特⻑

• 100n秒以下の高速イベント計測機能で部分放電も検出(抵抗値データと同時計測も可能)

• CH個別電源搭載&CH個別フィードバックで各サンプルに安定した電圧印加

• CH個別電源搭載&CH個別制御で全CHに異なる印加電圧設定が可能

• 機械式リレーによるスキャンが無いので連続試験中の故障やトラブル無し

• 短絡検出回路のCH個別搭載で瞬間的なサンプル短絡にも追従

• トライアキシャルケーブルによるアクティブガードで低ノイズ計測を実現(計測側)

• 専用ソフトウェアによりグラフ表示やデータ収録可能

• 5チャンネル単位で需要に応じてシステム構成可能

用途

⾼電圧デバイスの絶縁信頼性評価、パワーモジュールの連続耐圧評価、プリント基板の耐マイグレーション性能評価、その他⾼電圧部品の絶縁信頼性評価。

対応OS：WindowsXp、7、8、10