硅光电式OLED器件寿命测试系统 光学仪器
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硅光电式OLED器件寿命测试系统 光学仪器

FS-MP硅光电式OLED器件寿命测试系统 光学仪器

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2022-12-30 09:55:46
202
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苏州弗士达科学仪器有限公司

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产品简介

测试数量的OLED器件在恒压,恒流等条件下的亮度衰减情况。
预热及测试均可分为多段,每段按不同的测试条件进行。
每个通道均可在常规测试及脉冲测试间进行切换。
带有寿命曲线拟合功能。

详细介绍

本系统有多组独立的测量通道。每组测量通道有独立的电压输出,电流输出,电压测量,电流测量,相对亮度测量。每组测量通道可以独立设置测量参数,包括三段测量时长,测量时间间隔,停止测量判定条件等。每组通道均可以独立开始测量和停止测量。数据报表具备实时保存功能,不用担心数据丢失。治具采用探针接触方式,兼容顶发射和底发射产品。通道的数量可选配,常用型号有32通道、64通道、96通道、128通道


系统组成

1、相对亮度测量:使用硅光电探测器和高精度测量系统

2、电压或电流输出

3、电压电流测量

4、机柜

5、OLED TEG治具

6、工业计算机

7、不间断电源UPS

8、OLED寿命测量软件


加热工位参数

温度范围: 室温 - 100 ℃ (室温 -120℃可选)

温度精度: ±1℃,温度波动±0.2℃


根据用户不同温湿度环境测试需求,可增加高温箱、高低温箱、恒温恒湿箱等,对器件的寿命测试环境进行控制。

其温度控制范围、湿度控制范围和多层腔式均可根据客户的需求订制。


标准恒温恒湿箱参数

温度范围: -40~100 ℃ (标准型,其它温度范围可订制)

温度均匀度:±2.0℃

温度波动度: ± 0.5℃

温度精度:1 ℃

升温速度: 1.0~3.0℃/min

降温速率: 0.7~1.2℃/min

湿度范围:30%~98%RH (标准型,其它湿度范围可订制)

湿度波动度:±1.5%R.H

湿度偏差:±2.5%R.H



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