【HXJ-J1基本型多功能电解镀层测厚仪-简介】

    HXJ-J1基本型多功能电解镀层测厚仪是新一代的金属镀层电解测厚仪，该仪器是根据电化学中的库仑定理（Q=nF）与现代微电脑技术结合的产物，具有结构*，性能稳定可靠，功能齐全的特点。对多数非合金型的金属镀层厚度的测定适用，是国际标准中*的一种测厚方法---库仑法类仪器。使用本仪器还可以帮助用户找到适合不同要求的电镀工艺，是有关成品厂及电镀厂的仪器。本产品荣获国家轻工部科技成果三等奖。

    【HXJ-J1基本型多功能电解镀层测厚仪-技术参数】

◆  测量原理：利用与镀层、基材相对应的电解液、在一定的电流所溶解的硬度和时间成正比，来测定膜厚的一种测量方（却运用电化学中的库仑法来测定膜厚）
◆  可测定材料：可被电解液所电解金属镀层，如：钢、镍、铬、锌、银、金、锡等
◆  测量范围：0.03微米～99.99微米
◆  准确度：±10%
◆  复现精度：＜5%
◆  测量质表示：LED4位显示，其中两位为小数。打印输出四位数字，其中两位为小数
◆  测量面积：A橡皮垫圈-直径2.5mm，B皮垫圈-直径1.7mm
◆  性能特点：操作简便，复现性好，可测量单层，复合型电镀，具有内置微电脑，直观显示各层厚度

    【HXJ-J1基本型多功能电解镀层测厚仪-标准配置】

◆  主机、电解池、有机测量架、橡皮垫圈、标准样板、打印纸及支架、试剂瓶等