日本KETT品牌LZ-200J型膜厚测试仪

LZ-200J日本KETT品牌LZ-200J型膜厚测试仪

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2018-05-02 13:32:31
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上海益朗仪器有限公司

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产品简介

日本KETT品牌LZ-200J型膜厚测试仪
株式会社ケツト科学研究所
Kett Electric Laboratory
中国区总代理

详细介绍

日本KETT品牌LZ-200J型膜厚测试仪兼备电磁式与涡电流式功能,而且是内藏打印机的便携式膜厚计。可迅速对应磁性金属上及非磁性金属上的各式各样被膜厚度之测量。

具备统计计算功能,按下操作键即可求出平均值、标准偏差、zui大值、zui小值。

校正、记忆功能、上下限设定功能等。

 
日本KETT品牌LZ-200J型膜厚测试仪 
测量方式
 涡磁两用式
 
测量对象
 磁性金属上非磁性被膜及非磁性金属上绝缘被膜
 
测量范围
 磁:0~1500μm
涡:0~800μm
 
测量精度
 磁:15μm以下±0.3μm;15μm以上±2%
涡:50μm以下±1μm;50μm以上±3%
 
分辨率
 100μm以下:0.1μm;100μm以上:1μm
 
显示方式
 LCD数位荧幕显示
61(D)x29(H)mm
 
zui小测量面积
 5x5mm
 
校正记忆功能
 8组,任何时间开机不需重新校正
 
界限值
功能
 可任意设定上、下限判别功能,超过范围时以音响警示
 
资料记
忆数
 3000点
 
统计功能
 测量次数、平均值、zui大值、zui小值、标准差值
 
测量功能
 单点测试、连续扫瞄测试,可测试膜厚分布变化
 
打印机
 24 character内藏感热式打印机,自动统计记录,纸宽58mm
 
电 源
 AC110V/60Hz或主机单3号电池x6,打印机单3电池x4
 
尺  寸
 120(W)x250(D)x55(H)mm
 
重 量
 约1.1kg
 
测量方式
 内藏测头单点测试
 
测量单位
 公、英制可任意切换(μm/mils)
 
附 属 品
 铁素材、校正用标准片、电池、携带套、操作说明书、曲面固定器、测头、AC插头

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