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美国solar Metrology 太阳能薄膜电池CIS, CIGS, CIGSSe and CdTe厚度测量仪
11. 可将实验室建立的数据直接复制至线上检测机台上。
基本规格：
| X射线发生部 | 电压 | zui大50kV，多段电压切换 |
| 电流 | 4-1000μA，可做自动调整设定 | |
| 准直器 | 共五个 | |
| 侦测器 | Pin or Si | |
| 检测器 | 冷却方式 | 电子冷却 |
| 五种滤波器自动切换 | | |
| 电源 | AC110~240V, 50/60 Hz | |
应用领域：
| 镀层厚度分析 |
| （1）分析CIGS各镀层的厚度及成份同时测量。 |
其他型号：
薄膜太陽能檢測設備：
應用於薄膜太陽能電池CIGS及CdTe與III及V族厚度及成份分析。
● 桌上型成份及厚度分析儀SMX-BEN:*能提供NIST標準樣品，快速（60秒內）非破壞檢測。
● 生產製程專用模組 SMX-FPV: 適合於設備商turn-key使用，直接OEM與生產製程端整合。
● 即時監測設備（In-Situ） SMX-ISI: 適用於roll to roll、真空與非真空製程腔體內檢測，可耐高溫至 300°C。
● 產線自動檢測系統（In-Line） SMX-ILH:適用於各種製程產線上不同檢測點上，可依現場Layout 做不同方式進樣。
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