产品简介
简要描述：Park NX12原子力显微镜（AFM）有纳米级分辨率成像以及电，磁，热和机器性能测量的能力。- 纳米管扫描系统可用于高分辨率扫描离子电导显微镜（SICM）。- 倒置光学显微镜（IOM）便于透明材料研究和荧光显微镜一体化。
详细介绍
Park NX12原子力显微镜可用于任何一个项目，NX系列的众多扫描模式和模块化设计使它可轻松地适应任何一个扫描探针显微镜的需求。
Park NX12原子力显微镜参数：
标准成像：
- 真正的非接触模式AFM
- 接触模式AFM
- 侧向力显微镜（LFM)
- 相位成像
- 轻敲式AAFM
电性能：
- 导电AFM
- I-V谱线
- 扫描开尔文探针显微镜（SKPM/KPM)
- 高电压SKPM
- 扫描电容显微镜（SCM)
- 扫描电阻显微镜（SSRM)
- 扫描隧道显微镜 （STM)
- 扫描隧道光谱 （STS)
- 时间分辨的光电流测绘 （Tr-PCM)
磁性能：
化学性能：
- 扫描电化学池显微镜（SECCM)
- 扫描电化学显微镜 （SECM)
- 电化学显微镜(EC-STM和EC-AFM)
- 功能化探针的化学力显微镜
热性能：
光学性能：
- 探针增强拉曼光谱 (TERS)
- 时间分辨的光电流测绘 （Tr-PCM)
介电/压电性能：
- 静电力显微镜 （EFM)
- 动态接触式静电力显微镜（DC-EFM)
- 压电力显微镜 （PFM)
- 高电压PFM
机械性能
- Pinpoint纳米力学映射
- 力调制显微镜 （FMM)
- 纳米压痕
- 纳米刻蚀
- 高电压纳米刻蚀
- 纳米操纵
- 压电力显微镜 （PFM)
力测量：
- 力－距离（F-D)光谱
- 力－体积成像
- 热噪声法标定弹性系数
