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HR-150A型洛氏硬度计
面议HLN-11 多功能里氏硬度计
面议TT100超声测厚仪
面议TT220漆膜测厚仪
面议生物安全柜-IIA2安全柜
面议SW-CJ系列超净台-净化工作台-超净工作台(超净台)
面议培养箱-恒温培养箱HPX-9052/9082/9162/9272MBE
面议CO2培养箱-二氧化碳培养箱HH.CP-7(W)/01(W)-CO2培养箱/二氧化碳培养箱
面议培养箱-生化培养箱BSP-100/150/250/400/800
面议电热恒温培养箱DH2500AB
面议立式双层小容量恒温培养摇床 HNY-1102C
面议卧式大容量恒温培养摇床 HNY-111B
面议仪器介绍:
时代TT230数字式涂层测厚仪采用涡流测厚法,它能快速、无损伤、精颏地进行非磁性金属基体上非导电覆层厚度的测量(主要测量铝表面阳极氧化膜测量)。可广泛用于制造业、金属加工业、商检等检测领域。由于该仪器体积小,测头与仪器一体化,特别适用于工程现场测量。
时代TT230测厚仪主要功能:
可进行零点校准及二点校准。
可对测头进行基本校准。
设有五个统计量:平均值(MEAN)、大值(MAX)、小值(MIN)、测试次数(NO)、标准偏差(S.DEV)。 可存贮 和统计计算15个 测量值。
具有两种测量方式:连续测量方式(CONTINUE)和单次测量方式(SINGLE)。
自动关机功能。
删除功能:对测量中出现的单次可疑数据进行删除,也可删除存贮区内的所有数据,以便进行新的测量。
操作过程有蜂鸣声提示。
有欠压指示功能。
有错误提示功能。
时代TT230测厚仪主要应用:
铝合金表面阳极氧化膜厚度测量、氟碳喷涂测量
铜、铝等材料表面喷涂、喷塑
时代TT230测厚仪技术参数
测量范围(µm) | 待测基体小曲率半径 (mm) | 基体小面积的直径(mm) | 基体小面积的直径(mm) | 低限分辨力(µm) | 示值误差(µm) | |
零点校准 | 二点校准 | |||||
0~1250 | 凸3 | 凹10 | Æ5 | 1 | ±(3%H+1) | ±[(1%~ 3%)H+1] |