ST2000-DLXn厚度仪

ST2000-DLXn厚度仪ST2000-DLXn厚度仪

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具体成交价以合同协议为准
2023-03-12 07:18:52
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产品简介

ST2000-DLXn厚度仪·*优惠的价格 ·适合大学和科研中心 测量迅速,操作简单 非接触式,非破坏方式 优良的重复性和再现性 用户易操作界面 每个影像打印和数据保存功能 可测量多达3层 可背面反射

详细介绍

ST2000-DLXn厚度仪
·*优惠的价格
·适合大学和科研中心
尺寸 190 x 265 x 316 mm
重量 12Kg
类型 手动的
测量样本大小 ≤ 4"
测量方法 非接触式
测量原理 反射计
特征

测量迅速,操作简单
非接触式,非破坏方式
优良的重复性和再现性
用户易操作界面
每个影像打印和数据保存功能
可测量多达3层
可背面反射

活动范围 150 x 120mm(70 x 50mm 移动距离)
测量范围 200Å~ 35㎛(Depends on Film Type)
光斑尺寸 20㎛ 典型值
测量速度 1~2 sec./site
应用领域

聚合体: PVA, PET, PP, PR ...
电解质:
半导体: Poly-Si, GaAs, GaN, InP, ZnS...

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探头类型 三目探头
nosepiece Quadruple Revolving Mechanism with Inward Tilt
照明类型 12V 35W Halogen Lamp Built-in Control Device & Transformer

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