ST4000-DLX厚度仪-ST4000-DLX厚度仪-上海美盛自动化设备有限公司手机版

详细介绍

ST4000-DLX厚度仪
·标准模式
·工业规格
·适合科研中心
测量迅速，操作简单
非接触式，非破坏方式
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尺寸	500 x 610 x 640 mm
重量	45Kg
类型	手动的
测量样本大小	≤ 8", 12"
测量方法	无连接的
测量原理	反射计
特点	测量迅速，操作简单非接触式，非破坏方式 Print Function of Each View & Data Saving

活动范围	200mm x 200mm(8"), 300mm x 300mm(12")
测量范围	100Å~ 35㎛(Depends on Film Type)
光斑尺寸	40㎛/20㎛, 4㎛(option)
测量速度	1~2 sec./site
应用领域	All Capability of ST2000 & More Precision Measurement Intended for Wafer Measurement & OLED
选项	Programmable Auto Z Stage 参考样品(K-MAC or KRISS or NIST)
焦点	Coaxial Coarse and Fine Focus Controls
附带照明	12v 100W Halogen Lamp