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SXR-225 X射线测厚仪 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
美国EMC公司设计和生产X射线测厚仪和轧钢控制系统已有超过40年的历史。我们的测厚仪使用X-射线脉冲技术,因此能以更低的辐射提供更**的测量结果。SXR-225 X射线测厚仪采用*新的固态电路设计,打破了以往线路频率响应的限制。SXR-225 X射线测厚仪运行频率为225Hz,其快速的响应时间使其能更好地满足当今业界“低成本、高质量、高速度”生产的要求。
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在运行时,产生的X-射线脉冲穿过被测量的材料,到达探测器的射线量由于产品的吸收而衰减,射线的衰减量和被测产品的厚度成函数关系。检测到的信号被送往显示控制器用于合金补偿和(或)厚度显示。
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