一．用途：
本仪器利用平面反射式光栅分光研究物质的成份和含量，主要用于金属合金（包括矿物矿井石）的日常定性量分析，纯金属和材料的杂质鉴定，与各种附件配合，用作激光微区分析、记录闪光和弱光现象。
二.仪器特点： 
1．光学系统采用艾伯特垂直对称形式装置，彗差及象散可矫正到理想程度，在较长谱面范围内谱线清晰，结构均匀，灵敏度高。
2．仪器采用三透镜消色差照明方法，狭缝得到均匀照明，使同一条谱线黑度均匀。
3．仪器缝前的哈特曼光栏及三阶，九价减光板。
4．适用控制箱控制谱过程。
5．仪器配备直流电弧，交流电弧光源，以适应不同分析任务的需要。
6．仪器配置工作台，安装和操作方便。
7．在预处理阶段的铁样品的标准波长处谱线清新。
8．中心波长显示实现UI界面与人机互动。
9．采用高精密度的丝杆和光栅调节中心波长。
10．仪器采用全数字控制，可以实现相板移动自动化。
11．仪器实现全数显化，可直接显示预燃、曝光、板移的时间和中心波长。
三．规格：
工作波段：                          200nm～850nm
摄谱仪焦距：                      F=1050㎜
相对孔径：                         A=1：22
狭缝主要技术指标：         宽度范围0.002～0.3㎜          宽度分度值0.001㎜
                                             有效高度10㎜                 宽度再现性0.001㎜
波长显示：                         计数器(nm)
光栅：                                 200条/㎜光栅2块
外形尺寸：                         长×宽×高   1300×1500（包括导轨在内）×600㎜
重量：                                 100㎏
工作电源：                         380V  50Hz  20A
                                             220V  50Hz  20A