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HAST偏压老化 测试试验箱

HAST老化试验箱 ，应用于IC半导体、连接器、线路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏组件等行业相关之产品作加速老化寿命试验。通过模拟高温高湿环境，加速产品老化过程，以评估产品的可靠性和耐久性。

HAST偏压老化 测试试验箱

也称为高加速温湿度应力测试机（Highly Accelerated Stress Test），是一种用于模拟差环境条件下评估产品可靠性和寿命的重要测试设备。

原理：

HAST试验是在高温高湿的环境下对电子元件进行加速老化测试。通过在受控的压力容器内设定特定的温湿度条件，模拟产品在极低环境下的性能表现。HAST试验能够加速老化过程，如迁移、腐蚀、绝缘劣化和材料老化等，从而缩短产品可靠性评估的测试周期，节约时间和成本。

HAST试验主要分为高加速寿命试验（HALT）和高加速应力筛选（HASS）。HALT属于破坏性试验，主要使用在器件的设计环节，通过逐步升高器件的试验应力，确定器件的工作裕度值，从而得出器件对环境的耐受能力，改进设计。而HASS则是通过人为地对器件施加各种远超过器件设计规范规定的敏感应力组合，快速地将器件内部缺陷或薄弱环节激发出来，从而剔除有缺陷的器件，提高器件使用可靠性。

标准设计更安全：内胆采用圆弧设计防止结露滴水，符合guo家安全容器规范；

多重保护功能：各种超压超温、干烧漏电及误操作等多重人机保护；

稳定性geng高：控制模式分为干湿球、不饱和、湿润饱和等3种模式，确保测试稳定性；

湿度自由选择：饱和与非饱和自由设定；

智能化高：支持电脑连接，利用usb数据、曲线导出保存。