产品型号：TS-SI-3P
相移电子散斑干涉（ESPI）技术是继光弹性和全息干涉等光测力学方法之后发展起来的一种实验力学新方法。它直接依靠激光干涉和计算机图像采集处理系统获得干涉条纹。这种方法在工程上已得到了较广泛的运用，可用于解决工程中的强度和刚度问题，并可用于残余应力测量。
三维相移电子散斑干涉仪可满足物体表面面内位移和离面位移同时测量的要求。该仪器采用高性能半导体激光器作光源，并配以电子散斑条纹实时显示和位相处理软件，使得操作方便、测量结果兼容性强（便于通用数据处理软件接口）。

主要技术指标：
◆ 光源：半导体泵浦固体激光器（绿光）,输出功率大于20mw, 波长532nm
◆ 相机：1280×1024 USB2.0数字摄像头
◆ 镜头：25mm定焦镜头（标配），可选配其它C接头
◆ 工作距离：400～800mm
◆ 条纹分辨率：1/20级条纹（13.3nm)
◆ 演示试件： 圆盘受均布载荷，悬臂梁
◆ 范围：Ф250mm
◆ 尺寸：520cm×370cm×250cm
◆ 重量：22kg