产品型号：TS-SI-3P 
       相移电子散斑干涉（ESPI）技术是继光弹性和全息干涉等光测力学方法之后发展起来的一种实验力学新方法。它直接依靠激光干涉和计算机图像采集处理系统获得干涉条纹。这种方法在工程上已得到了较广泛的运用，可用于解决工程中的强度和刚度问题，并可用于残余应力测量。
        三维相移电子散斑干涉仪可满足物体表面面内位移和离面位移同时测量的要求。该仪器采用高性能半导体激光器作光源，并配以电子散斑条纹实时显示和位相处理软件，使得操作方便、测量结果兼容性强（便于通用数据处理软件接口）。

主要技术指标： 三维相移电子散斑干涉仪
◆ 光源：半导体泵浦固体激光器（绿光）,输出功率大于20mw, 波长532nm 
◆ 相机：1280×1024 USB2.0数字摄像头
◆ 镜头：25mm定焦镜头（标配），可选配其它C接*头
◆ 工作距离：400～800mm
◆ 条纹分辨率：1/20级条纹（13.3nm)
◆ 演示试件： 圆盘受均布载荷，悬臂梁
◆ 大范围：Ф250mm
◆ 尺寸：520cm×370cm×250cm
◆ 重量：22kg

  公司常年聘用国内、外高校和科研院所的多位专家教授作为公司的技术顾问，结合自身实际，不断进行新产品的研制开发，目前产品行销各大高校及科研院所的实验室等地方。其中，我公司与研究机构合作研制的翘曲变形测量系统已于2005年初被飞利浦公司所采用。光测力学实验室仪器也被美国奥克兰大学、清华大学、中国科技大学、国防科大、首都医科大学、东南大学、北京航空航天大学、南京航空航天大学、西安交通大学、西北工业大学、武汉大学、兰州大学、河海大学等院校所采用，为他们的教学和科研提供了新的研究手段，增加了新的研究方向。