KARL DEUTSCH涂层测厚仪Leptoskop厚度仪

KARL DEUTSCH涂层测厚仪Leptoskop厚度仪

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2021-03-24 19:03:37
382
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产地:进口;加工定制:否;
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深圳市净康科技有限公司

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产品简介

KARL DEUTSCH涂层测厚仪Leptoskop厚度仪LEPTOSKOP 2042多功能仪器具有精确的测量技术,操作简便。还包括通过解锁代码进行快速现场升级的选项。

详细介绍

KARL DEUTSCH涂层测厚仪Leptoskop厚度仪LEPTOSKOP 2042多功能仪器具有精确的测量技术,操作简便。还包括通过解锁代码进行快速现场升级的选项。

KARL DEUTSCH涂层测厚仪Leptoskop厚度仪用于测量磁性基材上的非磁性涂层的厚度(根据DIN EN ISO 2178)并通过涡流法测量非磁性导电基材上的非导电涂层的厚度(根据DIN EN ISO 2360)。

应用

特点:

选型:

LEPTOSKOP 2042具有三种配置级别:

 

技术数据
 
串行接口用于将数据传输到RS232或USB
电源通过电池,USB或电源装置
测量范围0-20000 µm(取决于探头)
测量率每秒高达2个读数
存储9999个读数(多140个文件)
测量不确定度
(校准后)
涂层厚度<100 µm:读数的1%+/- 1 µm 
涂层厚度> 100 µm:读数的1.0.3%+/- 1 µm 
涂层厚度> 1000 µm:读数的3..5% /-10 µm 
涂层厚度> 10000 µm:读数的5%+ /- 100 µm
附件
 
  • 测试块和校准箔
  • 探头定位装置 -适用于所有微型探头
  • 定位辅助 -适用于所有微型探针
  • PC软件iCom-用于数据传输和整个目录结构的便捷管理
  • PC软件EasyExport-用于将单个读数或完整文件轻松导出到Windows©程序

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