德国InstrumentSystems光谱仪/光学探头/辐射亮度测量探头/光谱仪配件TOP200–用于辐射和亮度测量的光学探头TOP200光学探头基于普里查德式光学设计，带有集成式取景相机。  

产品特长：  

1、普里查德式光学设计配有倾斜度仅15º的孔镜，可以提供非常圆的清晰图像点  

2、光纤的灵活连接和获取可重现读数的L模式混合器，以及极低的偏振灵敏度  

3、可通过软件选择的6种测量点大小  

4、具有宽视场的内部取景相机  

5、小的测量点：80µm  

6、测试对象的可选照明  

7、TOP150是具有单孔径的低成本替代产品。  

测量应用  

测得的辐射强度由TOP200通过多模光纤耦合到光谱仪中。InstrumentSystems的L模式混合器可确保光纤中的光透射均匀，即使光纤位置改变，也可产生可重现读数。  

普里查德原则支持在测量过程中观察视场，并监控视场进行准确定位。取景相机的图像由SpecWinPro软件自动导入并与读数一起保存。