膜厚计

日本KETT L-990膜厚计

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2021-08-27 14:52:07
1075
属性:
产地:进口;加工定制:否;
>
产品属性
产地
进口
加工定制
关闭
北京菁美瑞科技有限公司

北京菁美瑞科技有限公司

初级会员5
收藏

组合推荐相似产品

产品简介

日本KETT涂层测厚仪小巧、实用,用于无损、快速、精确的测量涂层、镀层厚度。

详细介绍

日本KETT涂层测厚仪小巧、实用,用于无损、快速、精确的测量涂层、镀层厚度。采用了磁性和涡流两种测厚方法,可无损的测量磁性金属基体(如钢、铁、合金和硬磁性钢等)上非磁性覆层的厚度(如铝、铬、珐琅、橡胶、油漆等)及非磁性金属基体(如铜、铝、锌、锡等)上的非导电覆层的厚度(如珐琅、橡胶、油漆、塑料等)。

 

型号 L-990
电磁涡流两用型
测定方法 电磁式                                频涡流式  
测定对象 磁性金属上非磁性涂镀层             非磁性金属上绝缘层  
测定范围 0-2000µm
测定精度 <50µm±1µm ,50µm-1000µm±2% ,1000µm-2000µm±3%
分辨率 100µm为1µm
测试单位 公/英制互换
显示方式 LCD 数显
操作面板 密封防水按键
附属品 基体/校正标准片/电池/皮套/说明书
电源 7#碱性电池×2
体积 82(W)×99.5(H)×31(D)mm
重量 主机重量:135g   主机含电池重量:155g
记忆数 多999个
记忆内容 测定结果,统计计算结果,批量号,测定或操作时间记录等的数据
输出形式 USB
输出内容 测定结果,统计计算结果,批量号,测定或操作时间记录等的数据
附加功能 时间,统计计算,大值/小值,标准偏离值,平均值,上下限设定
可选配置 数据管理软件(LDL-01),不同厚度的标准片,打印机V-330
上一篇:X射线荧光镀层测厚仪 下一篇:ISO 17025国际标准规格校正认定
热线电话 在线询价
提示

仪表网采购电话