令样品呈现水晶般清晰透亮正置偏光显微镜半自动 Leica DM4 P

正置偏光显微镜： *编码的半自动 Leica DM4 P

如果您想要研究晶体结构，偏光显微镜将是您的选择。无论是矿物、塑料和聚合物、药物药品或燃料和接合剂，我们的偏光显微镜都能帮助您观察到感兴趣的内容，完成您的研究或质量保证任务。

您的选择：Leica DM4 P正置偏光显微镜半自动 Leica DM4 P

借助编码的功能性，可灵活适应各种任务，操作安全简单，适用于学术研究、操作新手或多用户环境

• 6 位编码可调中物镜转盘

• 照明和对比度管理，获得可再现结果

• 编码锥光法，采用 1.6 倍放大倍率调节器

• LED 照明

• 状态显示

• 360° 旋转台，带或不带 45° 卡位装置

• 无应力光学部件

• 偏振设备范围广泛

• 固定或可变补偿器，符合 DIN 58879

Leica DM4 P：服务唾手可得

如果您想在偏光显微镜下进行各种操作，可以使用 Leica DM4 P。

通过编码组件存储和调用信息

• 6 想要更换物镜时，可通过照明强度控制和对比度管理器调用照明强度和光阑的设置。

• 6 得益于编码物镜转盘的存在，摄取的图像始终得到校准。 

辨识感兴趣的结构

• 6 25-mm 大视场为您带来完美的概览图像。

• 6 为您展现所需具体信息的往往是低放大倍率，而不是细节图 — 想想流动结构、变形结构或冷却过程造成的带状排列结构。

让物镜转盘来应对！

采用配备 6 个物镜并具有不同放大倍率的物镜转盘，获取丰富的样品信息。

• 使用 2.5 倍概览物镜可识别样品中的宏观结构

• 如要借助锥光法对光学属性进行详尽研究，可切换为 63 倍放大倍率

• 切换至 100 倍可以沿颗粒边界检验相反应

而且物镜转盘也是编码的，可为您提供智能支持。

两种照明物尽其用

您可以将 Leica DM4 P 配置为 LED 照明使用透射光或入射光，或者也可以一次性将其配置为使用两种光源。

• 进行反射率测量时必须使用入射光，例如观察矿石或煤炭。

• 进行双折射测量时则需要使用透射光，例如检测地质薄片、聚合物薄膜或药品。

• 在地质研究等特殊应用中，两种光都*。

当显微镜配置为使用入射光和透射光两种光时，相关物镜 (带或不带盖玻片校正功能) 应从 >10 倍的放大倍率开始使用。

研究光学属性

锥光法用于研究干涉图。这些图的形状和由补偿器进行的修改可以生成有关调查材料光学属性方面的信息。您可以测定材料的光轴数量、光轴角度和光学特性。

Leica DM4 P 非常理想地适用于锥光法：

•  具有高放大倍率和高数值孔径的无应力物镜是该项应用的*条件。

• 使用特殊 63 倍徕卡物镜，能满足偏振等级 5 的要求，从而获取结果。