德国NMERIK JENA成立于1970年，在测量系统的开发、制造和销售方面拥有40多年的经验。生产计量学及其制造精密秤的相关技术的根源可以追溯到卡尔蔡司和恩斯特阿贝。秉承这一伟大传统，所有活动的目标都是我们产品的不断更新和进一步开发。重点是国际市场的需求，由于我们产品的模块化特性，我们可以灵活应对。
NMERIK JENA开发、生产和销售具有高分辨率和精度的位移、位置和角度检测测量系统。产品不仅因其特别小的尺寸而令人印象深刻，而且由于其多功能性还可以普遍使用。NUMERIK JENA的 EPIFLEX传感器模块的出色特性使其能够将它们集成到几乎所有高科技应用中。
NUMERIK JENA配备了光刻、薄膜技术、结构和连接技术、机械生产和装配领域的新生产技术。这些技术使我们能够缩短交货时间并具有高度的灵活性。
1970:在Carl Zeiss Jena 公司成立NUMERIK部门，旨在开发和制造用于NC控制机床和自动测量设备的定位测里技术
1980:产品范围不断扩大。1980年代末，以下产品组属于生产范围:旋转编码器、角度测量系统、开放式和封装式线性测量系统、位置指示器、激光干涉仪、步进电机和滚珠丝杠
1990:专注于旋转编码器和线性测量系统
1996:推出基于新开发的EPIFLEX微型传感器以及SINGLEFLEX 和 DOUBLEFLEX卷尺的新一代测量系统。在此基础上，从现在开始可以制造绝对精度高达+/-0.1μm的极小型测量系统。
1998:成立 NUMERIK JENA GmbH公司
Nunerik Jena光栅尺LIA20系列将精度和易用性结合在一个设备中。凭借其集成的2场EPIFLEX传感器模块，它也适用于更粗糙的应用。使用EPIFLEX传感器模块(2场扫描);可单独配置;1Vpp或RS422输出信号;比较多100次信号插值;比较小的测量步长为50纳米;行走速度可达10m/ s(1Vpp);由于2场扫描，对污染的敏感性降低;由于多种安装可能性，安装灵活。
Numerik Jena直线光栅LIA20系列由于插值电路，集成在一个15针D-sub连接器或扫描头，分辨率降低到50纳米，可以没有任何额外的电子产品;允许的运行速度为正弦信号，输出达10米/秒;均方输出的0.1微米的分辨率波信号可为1.6米/秒的允许运行速度。短距离的位置误差(插值误差)通过引入振幅的电子补偿和偏移粗信号偏差均显著降低。这种补偿功能，在所有速度范围内可避免错误。
Numerik Jena直线光栅LIA20-N501WA兼容光栅尺MV5340NP。
详细参数
扫描头尺寸:34*13.2*12.4mm
扫描头重量:≤20g
扫描频率:比较大500kHz
电源电压:5V±10%
输出接口

电压输出:1VPP(15针D-Sub)

方波输出:RS422，插值可达100次(15针D-Sub)
电缆:
允许弯曲半径:
偶尔弯曲~8毫米
恒定弯曲~40毫米

Numerik Jena主要型号:LIK21、LIS73-1、LIS73-3、KITL2、KITLA、LIK2D、RIK、ULTHEMIUS、KIT-R、LINK-R、RS 192/160/24000、RIK4-2C 192/24000 N4-WZ、MV53
40NP、LIA20-N501 WA

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