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UV-A实验室 紫外 辐照计
UV-A 紫外 辐照计采用SMT贴片技术，选用低功耗数字芯片，仪器外壳为流线型设计，探测器经过光谱及角度性校正，性能稳定，适用性强。该仪器适用于光化学、高分子材料老化、探伤、紫外光源、植物栽培、以及集成电路光刻等领域的紫外辐照度测量工作。
波长范围λ1，峰值波长λp | （320～400）nm，λP＝365nm | 用户二选一 |
波长范围λ2，峰值波长λp | （375～475）nm，λP＝420nm | |
辐照度测量范围 | (0.1～199.9×103) μW/cm2 |
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紫外带外区杂光 | 0.02% |
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相对示值误差 | ±8％（相对于NIM标准） |
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角度响应特性 | ±5% （α≤10°） |
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线性误差 | ±1% |
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换档误差 | ±1% |
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短期不稳定性 | ±1%（开机30min后） |
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疲劳特性 | 衰减量<2% |
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零值误差 | 满量程的±1% |
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响应时间 | <1秒 |
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使用环境 | 温度(0~40)℃；湿度＜85％RH |
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尺寸和重量 | 160mm×78mm×43mm；0.2kg |
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电源 | 6F22型9V积层电池（非充电电池） |
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整机功耗 | ＜0.1VA |
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