KF100表面张力测量仪
KF100KF100表面张力测量仪功能多样,可以全自动测量表面和界面张力。KF100提供了诸多扩展模块来拓展仪器的应用范围, 用于测定表面和界面的各种特性,大大提高了其使用的灵活性。用标准方法来测量液体的表面和界面张力。测量温度控制范围从-10到130 C,可以满足实际测量需要。测样空间宽敞,有利于样品方便的处理。KF100测试结果准确、快速、稳定,深受用户好评! 参考价面议KF100界面张力测量仪
KF100界面张力测量仪功能多样,可以全自动测量表面和界面张力。KF100提供了诸多扩展模块来拓展仪器的应用范围, 用于测定表面和界面的各种特性,大大提高了其使用的灵活性。用标准方法来测量液体的表面和界面张力。测量温度控制范围从-10到130 C,可以满足实际测量需要。测样空间宽敞,有利于样品方便的处理。KF100测试结果准确、快速、稳定,深受用户好评! 参考价面议DLS 90纳米粒度仪分析仪
纳米粒度仪分析仪是一款基于动态光散射原理研制的纳米颗粒粒度表征仪器。分散在液体中的颗粒由于受到液体分子的热运动撞击而进行不规则的布朗运动。在相同环境下,颗粒尺寸越小,布朗运动越剧烈,对应颗粒的扩散行为越明显。当一束激光照射到这些颗粒时,其散射光的强度会由于颗粒的布朗运动而随机变化,且变化的快慢与颗粒布朗运动的快慢有关。 参考价面议DSA-X动态接触角测量仪
动态接触角测量仪DSA-X仪器机构结合了人体工程学,提供人性化的自动化进样调节、样品台调节、光学系统调节等,使测试变得准确而快速高效。 参考价面议DSA-X动态接触角测定仪
动态接触角测定仪DSA-X仪器机构结合了人体工程学,提供人性化的自动化进样调节、样品台调节、光学系统调节等,使测试变得准确而快速高效。 参考价面议DSA-X表面接触角测试仪
表面接触角测试仪由贝拓科学自主研发设计生产,配置的高分辨高速工业相机搭配LED冷光源,获得高清图像并通过全新优化的软件进行计算拟合获得准确的测试数据。 参考价面议DeltaDelta薄膜厚度测量系统
Delta薄膜厚度测量系统利用薄膜干涉光学原理,对薄膜进行厚度测量及分析。用从深紫外到近红外可选配的宽光谱光源照射薄膜表面,探头同位接收反射光线。Delta根据反射回来的干涉光,用反复校准的算法快速反演计算出薄膜的厚度。测量范围1nm-3mm,可同时完成多层膜厚的测试。对于100nm以上的薄膜,还可以测量n和k值。 参考价面议Delta薄膜厚度检测仪
薄膜厚度检测仪利用薄膜干涉光学原理,对薄膜进行厚度测量及分析。用从深紫外到近红外可选配的宽光谱光源照射薄膜表面,探头同位接收反射光线。Delta根据反射回来的干涉光,用反复校准的算法快速反演计算出薄膜的厚度。测量范围1nm-3mm,可同时完成多层膜厚的测试。对于100nm以上的薄膜,还可以测量n和k值。 参考价面议Delta薄膜厚度测定仪
薄膜厚度测定仪利用薄膜干涉光学原理,对薄膜进行厚度测量及分析。用从深紫外到近红外可选配的宽光谱光源照射薄膜表面,探头同位接收反射光线。Delta根据反射回来的干涉光,用反复校准的算法快速反演计算出薄膜的厚度。测量范围1nm-3mm,可同时完成多层膜厚的测试。对于100nm以上的薄膜,还可以测量n和k值。 参考价面议DSA-X ROLL全自动整体倾斜接触角测量仪DSA-X ROLL
全自动整体倾斜接触角测量仪DSA-X ROLLDSA-X Plus光学接触角测量仪由贝拓科学自主研发设计生产,配置的高分辨高速工业相机搭配LED冷光源,获得高清图像并通过全新优化的软件进行计算拟合获得准确的测试数据。仪器机构结合了人体工程学,提供人性化的自动化进样调节、样品台调节、光学系统调节等,使测试变得精确而快速高效。 参考价面议DSA-X Plus自动型水滴角测试仪
自动型水滴角测试仪由贝拓科学自主研发设计生产,配置的高分辨高速工业相机搭配LED冷光源,获得高清图像并通过全新优化的软件进行计算拟合获得准确的测试数据。仪器机构结合了人体工程学,提供人性化的自动化进样调节、样品台调节、光学系统调节等,使测试变得准确而快速高效。 参考价面议Delta薄膜厚度仪
薄膜厚度仪利用薄膜干涉光学原理,对薄膜进行厚度测量及分析。用从深紫外到近红外可选配的宽光谱光源照射薄膜表面,探头同位接收反射光线。Delta根据反射回来的干涉光,用反复校准的算法快速反演计算出薄膜的厚度。测量范围1nm-3mm,可同时完成多层膜厚的测试。对于100nm以上的薄膜,还可以测量n和k值。 参考价面议