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仪器介绍手持式X射线荧光光谱仪
手持式X光荧光分析仪(HHXRF)的X-MET8000系列提供进行快速的合金等级鉴定及多种材料(固体和粉末金属、聚合物、木材、溶液、土壤、矿石、矿物等)的准确化学结构分析所需的性能。 X-MET方便、耐用且使用简单,可为您提供可靠的结果。
我们提供多种型号的产品,符合您不同应用的所有分析需要和预算。
操作简单
符合人体工学
坚固耐用而拥有成本低
符合IP54要求(等同于NEMA 3)、防水、防尘的X-MET可供室内外使用。
通过MIL-STD-810G军用耐用标准测试。
其可选的防扎窗口膜可预防在粗糙表面上测量导致探测器损坏而出现的高昂维修费用。
技术参数
X射线管:40kV
滤光片:单一
检测器:大面积 SDD
样本温度:400oC
符合 IP54 等级
Thick Kapton®窗口:保护以预防探测器的窗户损坏
校准:基本参数法(FP)
内置摄像头 (可选)
X射线管:40kV or 50kV
滤光片:6位滤光转换器
检测器:大面积 SDD
样本温度:100oC 或通过 HERO™ 耐热窗户400oC(可选)
符合 IP54 等级
可选窗口防护罩:预防检测器的窗口损坏进行保护
校准:基本参数法 (包括轻元素分析)
内置摄像头(可选)
小光班准直器(可选)
针对所有元素(从镁到铀)进行优先分析的六位滤光片
X射线管:50kV
滤光片:6位滤光转换器
检测器:大面积 SDD
样本温度:100oC 或通过 HERO™ 耐热窗户400oC(可选)
符合 IP54 等级
可选窗口防护罩:预防检测器的窗口损坏进行保护
校准方法:自动跳转的经验系数法(可进行追溯)
内置摄像头
小光班准直器 (可选)
针对所有元素,从镁到铀,的优先分析的六位滤光片