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PA-300-MT应力测量仪 PA系列是日本Photonic lattice公司倾力打造的双折射/应力测量仪,PA系列测量双折射测量范围达0-130nm,可以测量的样品范围从几个毫米到近500毫米。PA系列双折射测量仪以其技术的光子晶体偏光阵列片,*的双折射算法设计制造,得到每片样品仅需几秒钟的测量能力,使其成为业内,特别是工业界双折射测量/应力测量的选择。
PA-300-MT应力测量仪
主要特点:
应用领域:
主要技术参数:
项次 | 项目 | 具体参数 |
1 | 输出项目 | 相位差【nm】,轴方向【°】,相位差与应力换算(选配)【MPa】 |
2 | 测量波长 | 520nm |
3 | 双折射测量范围 | 0-130nm |
4 | 测量小分辨率 | 0.001nm |
5 | 测量重复精度 | <1nm(西格玛) |
6 | 视野尺寸 | 17.5x21mm到33x40mm(标准) |
7 | 选配镜头视野 | 6.3x7.5mm |
8 | 选配功能 | 实时解析软件,镜片解析软件,数据处理软件,实现外部控制 |
测量案例: