Surfix S可换探头统计型覆层测厚仪
1.Surfix S覆层测厚仪可换8种碳化钨超耐磨测头测铁基和有色金属基上镀层和涂层
2.同屏显示统计数据.可存储前200测值,分辨率0.1μm
3.根据所选探头:精度可达±0.7μm+1%,读数或范围可达10mm
4.Surfix S统计型覆层测厚仪探头需另选购
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