在工业生产和生活应用中，薄膜厚度（例如微电子薄膜，光学薄膜，抗氧化薄膜，巨磁电阻薄膜，高温超导薄膜等）是一项非常重要的参数，因为它直接关系到薄膜材料能否正常工作，除此之外，薄膜材料的力学性能，如透光性能、磁性能、热导率、表面结构等都与厚度密不可分。

众测机电研发生产的高精度0.1微米自动薄膜测厚仪THK-01适用于2mm范围内各种薄膜、复合膜、纸张、金属箔片等硬质和软质材料厚度的测量。该仪器精度高，误差小，操作简单方便，同时配备微型打印机，方便查看和打印数据结果。

自动薄膜测厚仪

高精度0.1微米自动薄膜测厚仪THK-01主要参数：
通用名称：测厚仪
测量范围：0～2mm（标配）；0～6mm、0～12mm（选配）
分辨率：0.1μm
测试速度：1～25次/min
测量头平行度：±2μm（机械调整，量块校验）
重复性：0.3μm
测量压力：17.5±1kPa(薄膜)；50±1kPa(纸张)；
接触面积：50mm2(薄膜)； 200mm2 (纸张)；
               薄膜、纸张任选一种，非标可定制
电源：AC220V50Hz/ AC120V60Hz
外形尺寸：300mm(L)×400mm(W)×435mm(H)
约净重：30Kg

参照标准：GB/T6672-2001塑料薄膜和薄片厚度测定_机械测量法、GB/T 451.3-2002 纸和纸板厚度的测定、GB/T6547 瓦楞纸板厚度的测定法、ASTMD1777 测量纺织材料的厚度的标准试验方法、TAPPIT411 美国造纸工业标准TAPPI Standard、ISO 4593 塑料薄膜和薄板机械扫描测定厚度、ISO534 纸和纸板厚度、紧度和松厚度测试、ISO3034 瓦楞纸板--单张厚度的测定、 DIN53105 纸和纸板检验．平均单页厚度、未加工厚度和特殊体积规定、DIN53353、JISK6250、JISK6328、JISK6783、JISZ1702、BS3983、BS4817