薄膜厚度测量仪THK-01主要参数

薄膜厚度测量仪THK-01适用于塑料薄膜量程范围内各种材料的精确厚度测量，又称为薄膜测厚仪、薄膜厚度测试仪等。

薄膜厚度测量仪

薄膜厚度测量仪主要参数：
专业名称：测厚仪
仪器型号：THK-01
测量范围：0～2mm（标配）；0～6mm、0～12mm（选配） 
分辨率：0.1μm
测试速度：1～25次/min
测量头平行度：±2μm（机械调整，量块校验）
重复性：0.3μm
测量压力：17.5±1kPa(薄膜)；50±1kPa(纸张)；
接触面积：50mm2(薄膜)； 200mm2 (纸张)；
               薄膜、纸张任选一种，非标可定制
电源：AC220V50Hz/ AC120V60Hz
外形尺寸：300mm(L)×400mm(W)×435mm(H)
约净重：30Kg

检测原理：
 将预先处理好的薄型试样的一面置于下测量面上，与下测量面平行且中心对齐的上测量面，以一定的压力，落到薄型试样的另一面上，同测量头一体的传感器自动检测出上下测量面之间的距离，即为薄型试样的厚度。