产品详情：

SWIR 640 x 512 InGaAs摄像机

描述：

InGaAs短波红外SWIR摄像机提供640x512分辨率，响应高达1.7 µm。

高分辨率SWIR摄像机可用于多种应用，包括激光束轮廓分析，半导体检查，高光谱成像，在线过程控制，低光水平成像和筛选太阳能电池。

对于太阳能电池的筛选，由于其在超过1.1 µm的波长下具有透明性，因此可以通过大块硅对早期处理阶段的缺陷成像。切片的晶圆上会发现裂缝，死角或较弱的响应区域，从而可以自动分类/选择合适工件。摄像机终捕获了来自各个光伏电池的微弱电致发光（EL）和光致发光（PL）发射，这些发射与它们的效率成正比。

可以向Photonic Science高分辨率SWIR摄像机提供 的SWIR光学器件，与常规CCD摄像机所使用的常规NIR光学器件相比，它将提供更高的分辨率/对比度调制和更低的失真。

主要特征：

-14位数字化/ 16位图像处理

-读出的噪声通常小于30个电子

-感兴趣区域ROI时> 200 fps

-对不同强度和/或曝光的 线性度

-千兆以太网和Camera Link接口

-软件选件SDK套件，Labview VI的

参数：

-光谱范围：900-1700 nm

-帧速率：全VGA分辨率下为174 fps

    1/4 VGA分辨率下为570 fps

    640x4分辨率下为7,200 fps（光谱或行模式）

-传感器尺寸：9.6 mm x 7.68 mm

-像素分辨率：640 x 512

-间距：15µm x 15µm

-全阱容量：20k- 23k电子（高增益模式）

      80k-105k电子（中增益模式）

      1.0M-1.5M电子（低增益模式）

-读出噪声：28-38电子（高增益模式）

      50-77个电子（中增益模式）

      500-800个电子（低增益模式）

-读取方式：先读后积分，边读边积分

-暗电流：空冷时<0.7fA，水冷时<0.1fA

-传感器工作温度：空气冷却为-25°C，水冷却为-40°C（暗电流较低）

-校正：非均匀性，亮像素，增益，偏移，平场

-ADC：14位带16位数字处理

-曝光控制：30微秒至> 1分钟

-QE @ 1500 nm：80％