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Zeta-APS 高浓度纳米粒度及Zeta电位分析仪-自动电位滴定仪
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面议ZetaFinder ZF400 高浓度Zeta电位分析仪-自动电位滴定仪
面议CHDF4000 高分辨率纳米粒度仪
面议APS-100高浓度纳米粒度仪 Zeta电位仪
面议AREPA 原液在线纳米粒度仪
面议ZetaAPS电位分析仪-自动电位滴定仪
面议CHDF4000纳米粒度仪及成分分析仪
面议美国MAS超声粒度仪 Zeta电位仪
面议多功能超声法粒度仪
面议胶体电声法Zeta电位分析仪
面议粒度及Zeta电位分析仪
面议美国MAS高分辨纳米粒度仪
新的 CHDF 3000 提供:
1】高分辨率粒度分布(PSD)测量 的新的技术,包括颗粒检测高灵 敏度、动态范围和纳米颗粒优化分析。
2】粒子分馏的真实 PSD 数据。无需对粒径分布的形状进行假设。
3】精确非均匀样品分析—包括纳 米颗粒—归功于其与颗粒密度无关的分析。
4】自动/无人操作。所有组件都在一个简易单一窗口界面控制和操作。
美国MAS
应用科学公司的新 CHDF3000 系统,在高分辨率粒度分布(PSD)分析方面有*新的进展。CHDF3000 使用毛细管流体动力分馏(CHDF)技术按大小分离颗粒。架构于光散射仪器、主要提供平均粒径数据—任何平均粒径都可由无限多的 PSD 产生(见下文)。相反,CHDF3000在 5 纳米到 3 微米范围内提供完整、真实、详细的 PSD 数据。接下来将介绍CHDF3000 的一些优势亮点。
美国MAS高分辨纳米粒度仪
优势: