JX-I20 20N推力试验探针 JX-I21 1N推力试验探针 量规

JX-I20 20N推力试验探针 JX-I21 1N推力试验探针 量规

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2022-11-02 09:22:29
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产品简介

●产品概述:本套探针分别符合GB2099.1-2008标准中的图9及图10、IEC884-1.2002图9及图10要求,20N推力探针主要用于检验保护门内的带电部件是否被触及,1N推力探针主要用于检验保护门内的带电部件及有加强保护插座的带电部件是否被触及

详细介绍

●产品概述:

本套探针分别符合GB2099.1-2008标准中的图9及图10、IEC884-1.2002图9及图10要求,20N推力探针主要用于检验保护门内的带电部件是否被触及,1N推力探针主要用于检验保护门内的带电部件及有加强保护插座的带电部件是否被触及。

●技术参数

20N推力试验探针JX-I20:探针部分3+0.03  0×1+0.015  0×80±0.5,端部倒圆R0.2±0.05,20N推力;

1N推力试验探针JX-I21:探针部分Φ1+0.015  0×80±0.5,端部倒圆R0.05,1N推力  

●使用方法

将探针端部接触试样,然后施力20N(1N),当探针凸出端A-A面与B-B面平齐即可。

 

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