ruker Multimode 8 DI 第八代多功能扫描探针显微镜

-高分辨扫描探针显微镜的*
-搭配快速自动扫描成像技术
-功能更完善，表现更

MultiMode平台是世界上应用泛的扫描探针显微镜（SPM），已经在成功安装使用了近万套。它的成功基于其的高分辨率和高性能，*的多功能性，以及已经得到充分证实的效率和可靠性。现在，MultiMode扫描探针显微镜以其*的ScanAsyst模式，采用其*的自动图像优化技术，使得用户无论具备什么技能水平，也能在材料科学，生命科学，聚合物研究领域的研究中迅速地获得符合要求的研究成果。?SPM的控制电路也是影响性能的重要因素，第五代的NanoScope V控制器具有*的数字架构：具有高数据带宽，低噪声数据采集和*的数据处理能力。布鲁的技术已经开创工业上的新标准，例如：ScanAsyst 模式 & PeakForce QNM 模式。Multimode 的加热和制冷装置能对样品进行加热与制冷，适合于生物学，聚合物材料以及其他材料研究应用。采用加热和制冷装置后MULTIMODE 可在零下35°C到250 °C范围内对样品进行温度控制；并可以在水，溶液或缓冲剂的液体环境中进行扫描。当在气体环境下对样品进行扫描时，采用环境控制舱可以在大气压标准下控制环境气体的成分。

一、技术参数：

1.显微镜：多种可选Multimode SPM扫描头?
AS-0.5 scanner – 0.4μm x 0.4μm XY and 0.4μm Z range;
AS-12 scanner – 10μm x 10μm XY and 2.5μm Z range (非垂直下针)
AS-12VLR scanner – 10μm x 10μm XY and 2.5μm Z range (垂直下针)
AS-130VLR scanner – 125μm x 125μm XY and 5μm Z range (垂直下针) 
AS-12NM scanner – 10μm x 10μm XY and 2.5μm Z range (非垂直下针) 
AS-130NM scanner – 125μm x 125μm XY and 5μm Z range (非垂直下针) 
PicoForce scanner – 40μm x 40μm XY and 20μm Z range,针对 Z 方向闭环力谱应用 
MMAFMXYZ – 100μm x 10μm XY and 15μm Z range XYZ三方向闭环，不*在液相中使用

2. 噪声：垂直(Z)方向上的RMS值＜0.3埃 （带防震系统的测量值）
3. 样品大小：直径≤15mm, 厚度≤5mm
4. 针尖/悬臂支架：
● 空气中轻敲模式/接触模式(标准)
● 液体中轻敲模式/力调制(可选) 
● 空气中力调制(可选)；
● 电场模式(可选)
● 扫描热(可选-需要大的光学头或者外加的应用组件)
● STM转换器(可选)
● 低电流STM转换器(可选)；接触模式液体池(可选)
● 电化学AFM或STM液体池(可选)
● 扭转共振模式(可选)
5. 防震和隔音：
● 硅胶共振模式(可选)
● 防震三脚架(可选) ；
● 防震台(可选) 
● 集成的防震台和隔音罩(可选)

二、主要特点：

1. 世界上的分辨率
2. 出众的扫描能力
3. 优异的可操作性
?4. 非凡的灵活性与功能性
5. 无限的应用扩展性 Multimode可以实现全面的SPM表面表征技术，包括：
● 轻敲模式(Tapping Mode AFM)
● 接触模式(Contact Mode AFM)
● 自动成像模式(ScanAsyst)
● 相位成像模式(Phase Imaging)
● 横向力术模式(laterial Force Microscopy, LFM)
● 磁场力显微术(Magnetic Force Microscopy, MFM)
● 扫描隧道显微术(Scanning Tunneling Microscopy, STM)
● 力调制(Force Modulation)
● ?电场力显微术(Electric Force Microscopy, EFM)
● 扫描电容扫描术(Scanning Capacitance Mcroscopy, SCM)
● 表面电势显微术(Surface Potential Microscopy)
● 力曲线和力阵列测量(Force-Distance and Force Volume Measurement)
● 纳米压痕/划痕(Nanoindenting/Scratching)
● 电化学显微术(Electrochemical Microscopy, ECSTM and ECAFM)
● 皮牛力谱(PicoForce Force Spectroscopy)
● 隧道原子力显微术(Tunneling AFM, TUNA)
● 导电原子力显微术(Conductive AFM, CAFM)
● 扫描扩散电阻显微术(Scanning Spreading Resistance Microscopy, SSRM)
● 扭转共振模式(Torsional Resonance mode, TR mode)
● 压电响应模式(Piezo Respnance mode, PR mode)
● 其他更多模式....