BJ2984A BJ2984A 半导体分离器件测试仪|美达
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北京恒高仪讯科技有限公司
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BJ2984A 半导体分离器件测试仪
BJ2984A 半导体分离器件测试仪产品特点:
BJ2984A 半导体分离器件测试仪可对各种类锗、硅晶体二极管的瞬态热阻进行快速测试。对以环境温度Ta为参考点不 带散热器作用的中、小功率晶体二极管可以直接测定其稳态热阻;对以壳温Tc为参考点带热器使用的大功率晶体二极管,当用户在自行给定的散热条件下测量出壳温度Tc数值后,亦可确定其稳态热阻。
BJ2984A 半导体分离器件测试仪技术指标:
测试功率: 0~10W (1.999V/5A)
(1) IF:0~5A(分8档)
(2) VF:数字表:0~1.999V
(3) M数字表:0~ —4.00mV / ℃
(4) △VF数字表:0~999 mV
(5) 脉宽τ:1mS~1000S(分七档)
脉宽扩展:τ×1、τ×2、τ×5
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