BJ2984A 半导体分离器件测试仪|美达

BJ2984A BJ2984A 半导体分离器件测试仪|美达

参考价: 面议

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2018-05-14 09:00:00
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产品简介

BJ2984A 半导体分离器件测试仪

详细介绍

 

 

 

 

BJ2984A 半导体分离器件测试仪

 

 

 

BJ2984A 半导体分离器件测试仪产品特点:

 

 

 

BJ2984A 半导体分离器件测试仪可对各种类锗、硅晶体二极管的瞬态热阻进行快速测试。对以环境温度Ta为参考点不 带散热器作用的中、小功率晶体二极管可以直接测定其稳态热阻;对以壳温Tc为参考点带热器使用的大功率晶体二极管,当用户在自行给定的散热条件下测量出壳温度Tc数值后,亦可确定其稳态热阻。

 

 

BJ2984A 半导体分离器件测试仪技术指标:

 

 

测试功率: 0~10W 1.999V/5A

1 IF0~5A(分8档)

2 VF:数字表:0~1.999V

3 M数字表:0~ 4.00mV /

4 VF数字表:0~999 mV

5 脉宽τ:1mS~1000S(分七档)

脉宽扩展:τ×1、τ×2、τ×5

 



 

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