ICT33C 集成电路测试仪产品特点：

·               器件好坏判别：当不知被测器件的好坏时，仪器可判断其好坏。

·               器件型号判别：当不知被测器件型号时，仪器可依据其逻辑功能来判断 其型号。

·               器件老化测试：当怀疑被测器件的稳定性时，仪器可对其进行连续老化测试。

·               器件代换查询：仪器可显示有无逻辑功能*，引脚排列*的器件型号。

·               电压调节选择：3V、5V、9V、15V。

·               内部RAM数据修改：ICT-33C可从键盘对自己内部RAM中的数据进行随机修改。

·               EPROM、EEPROM器件读入：ICT-33C可将64K以内的EPROM、EEPROM器
件内的数据进行读入并保存。

·               EPROM、EEPROM器件写入：ICT-33C可将内部RAM中的数据写入到64K
以内的EPROM、EEPROM器件中,并自动校验。

·               新增RS232接口，与PC通讯，互送资料。

ICT33C 集成电路测试仪技术规格：(可测1300种)

·               CMOS40系列：103种。 

·               CMOSMCI40系列：103种。

·               CMOS45系列：60种。 

·               CMOSMCI45系列：60种。

·               光耦合器系列：133种。

·               TTL74/54系列：714种。

·               数码管系列：

·               TTL75/55系列：82种。

·               常用RAM系列：22种

·               EEPROM系列：6种

·               EPROM系列：6种

·               微机外围电路系列：31种

·               常用单片机系列：16种 

·               其他系列：40种