ICT33C+ 集成电路测试仪|美达

ICT33C+ ICT33C+ 集成电路测试仪|美达

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具体成交价以合同协议为准
2018-05-14 09:00:00
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产品简介

ICT33C+ 集成电路测试仪

详细介绍

 

ICT33C+ 集成电路测试仪

 

ICT33C+ 集成电路测试仪产品特点: 

 

 1.工作原理:
    ICT33C+集成电路测试仪是以器件预期响应法为指导思想,以单片机智能化为结构的多功能测试仪器。它以MCS51单片机为核心,配合大规模软件和外围扩展系统来全面模拟被测器件的综合功能。仪器的设计基础立足于这样的原则:在数字集成电路众多参数中,逻辑功能是zui重要,zui根本,zui能说明问题的参数。


 

2.系统主要构成:
1 CPUMCS51系列产品89C52;主频:11.059M
2 程序存储器:128K  EPROM
3 RAM缓冲区:128K静态RAM
4 显示器:8位液晶显示器。
5 操作键盘:20位轻触式按键键盘。
6 输出:七只LED+八位液晶显示+声音提示。
7 机箱:全塑结构机箱。
 

 

ICT33C+ 集成电路测试仪技术规格:

 


1       电源电压:AC220V±15%50HZ
2       整机功耗:15VA
3       测试电压:3.3V5.0V9.015V
4       编程电压:12.5V21V
5       zui大测试脚数:DIP封装40脚;SOP封装20脚(须另购适配器)。
6       型号输入位数:3——6位。
7       适用温度:0——40
8       测试规范:输入短路测试;输出短路测试;功能测试。
9       输出高电平
VOH
:大于2.8V
VT=5.0V)。
10   
输出低电平VOL:小于0.7V
VT=5.0V)。
11   
输入高电平VIH:大于4.5V
VT=5.0V)。
12   
输入低电平VIL:小于0.2V
VT=5.0V)。
ICT33C+
具有以下主要用途:
1       维修各类电子产品,判断其集成电路故障。
2       破译被抹去型号集成电路的真实型号。
3       烧写各类EPROMEEPROMFLASH ROM、单片机片内ROM
4       开发各类智能电子产品,调试程序。
5       检验新购器件的质量。

 





 

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