薄膜高频介电常数测试仪第三段文字。

平板电容极片 Φ50mm/Φ25.4mm                         可选频率范围10KHz-60MHz/200KHz-160MHz

线可测量高压介损

D618     试验用塑料调节规程

薄膜高频介电常数测试仪板电容器

第二段文字。

性能特点：

间距可调范围≥15mm                                   频率指示误差3×10-5±1个字

D5032    用饱和甘油溶液方式维持恒定相对湿度的规程

多种测量方式 可选择正/反接线、内/外标准电容器和内/外试验电压进行测量。正接

CCTO陶瓷的介电性能，2001年，Ramirez和Subramanian等人发现具有类钙钛矿结构的CaCu3Ti4O12(CCTO)具有优异的介电性能。介电常数高，可达105以上，介电常数在100K~600K范围几乎不随着温度而变化，工艺简单，空气中一次烧成，无相变发生。

测试主机一台；

CCTO陶瓷的压敏特性，非线性系数a是表征压敏电阻器压敏性能好坏的重要参数。2004年S.Chung等人发现CCTO陶瓷样品在5~100mA的范围内测得的非线性系数a高达912。

消耗功率：约25W；   

保证二个测微杆0.01mm分辨率。

本测试装置是由精密机械构件组成的测微设备，所以在使用和保存时要避免振动和碰撞，要求在不含腐蚀气体和干燥的环境中使用和保存，不能自行拆装，否则其工作性能就不能保证，如测试夹具受到碰撞，或者作为定期检查，要检测以下几个指标：

该仪器是发电厂、变电站等现场全自动测量各种高压电力设备介损正切值及电容量的高精度仪器。能保证在强电场干扰下准确测量。仪器增加了中文菜单功能，操作更为简单，方便。一次操作，微机自动完成全过程的测量。是目前醉理想的介损测量设备。

其他

环境温度：0℃～+40℃ 

2.1 ASTM标准：4

介电常数介质损耗测试仪2.引用文件

D1711    电绝缘相关术语

该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。

平板电容器二极片平行度不超过0.02mm。

偶极子转向极化和空间电荷极化，在电场作用下则要经过相当长的时间（10-10秒或更长）才能达到其稳态，所以这类极化称为有惯性极化或驰豫极化；这种极化损耗能量；

介电常数常用测量方法，介电常数测量技术在民用，工业以及军事等各个领域应用广泛。首先对国家标准进行了对比总结；再分别论述几种常用的测量方法和基本原理、适用范围、优缺点及发展近况。

而数显的微测量装置，用于显示被测材料样品的厚度。

型号频率指示误差：3*10-5 ±1

用精密电容测量仪（±0.01pF分辨率）测量园筒电容器，电容呈线性率，从0~20mm，每隔1mm测试一点，要求符合工作特性要求。

相对湿度：<80％； 

电感测量范围：14.5nH～8.14H 自身残余电感和测试引线电感的自动扣除功能

仪器能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。

安全措施高压保护：试品短路、击穿或高压电流波动，能迅速切断高压输出。

……

2005年V.P.B.Marques等人也报到了CCTO具有优良的压敏电阻特征。

维修保养

本测试装置是由二只测微电容器组成，平板电容器一般用来夹持被测样品，园筒电容器是一只分辨率高达0.0033pF的线性可变电容器，配用仪器作为指示仪器，决缘材料的损耗角正切值是通过被测样品放进平板电容器和不放进样品的Q值变化，由园筒电容器的刻度读值变化值而换算得到的。同时，由平板电容器的刻度读值变化而换算得到介电常数。

夹具一 套 

把本测试装置上的夹具插头插入到 Q 表测试回路的“电容”两个端子上。 

1 本规范归属于电学和电子绝缘材料ASTM D09委员会管辖，并由电学试验D09.12附属委员分会直接管理。

附表二    电感组典型测试数据

附表一,介质损耗测试系统主要性能参数一览表

产品配置：

当前版本核准于2011年8月1日。2011年8月发行。原版本在1922年批准。前一版本于2004年批准，即为 D150-98R04。DOI：10.1520/D0150-11。

仪器内部装备了高压升压变压器，并采取了过零合闸、防雷击等安全保护措施。试验过程中直接加220V交流电源，可输出2KV、5KV、10KV 不同等级的高压，操作简单、安全。

外型尺寸：（l×b×h）mm：380×132×280。

样品厚度可在 1--5mm 之间，样品太薄或太厚就会使测试 精度下降，样品要尽可能平直。 下面推荐一种能提高测试精确性的方法：准备二片厚 0.05mm 的圆形锡膜，直径和平 板电容器极片一致，锡膜两面均匀地涂上一层薄薄的凡士林，它起粘着作用，又能排除接 触面之间残余空气，把锡膜再粘在平板电容器两个极片上，粘好后，极片呈镜面状为佳， 然后放上被测样品。 

工作原理

电容量线性：0.33pF / mm±0.05 pF

BH916测试装置                                        GDAT高频Q表

专业生产介电常数测定仪

品止（注意调节时要用测微杆，以免夹得过紧或过松），这时能读取的测试装置液晶显示 屏上的数值，既是样品的厚度 D2。改变 Q 表上的主调电容容量，使 Q 表处于谐振点上。 b. 取出平板电容器中的样品，这时 Q 表又失谐，此时调节平板电容器，使 Q 表再 回到谐振点上，读取测试装置液晶显示屏上的数值记为 D4 c. 计算被测样品的介电常数： Σ＝D2 / D4 5．介质损耗系数的测试 a. 重新把测试装置上的夹具插头插入到 Q 表测试回路的“电容”两个端上。 把被测样品插入二极片之间，改变 Q 表上的主调电容容量，使 Q 表处于谐振点上，读得 Q 值，记为 Q2。电容读数记为 C2。 b. 取出平板电容器中的样品，这时 Q 表又失谐，再改变 Q 表上的主调电容容量，使 Q 表重新处于谐振点上。读得 Q 值，记为 Q1。电容读数记为 C1。 c. 然后取下测试装置，再改变 Q 表上的主调电容容量，重新使之谐振，电容读数记 为 C3，此时可计算得到测试装置的电容为 CZ = C3 －C1 d. 计算被测样品的介质损耗系数     

电感一套；

园筒电容器的轴和轴同心度误差不超过0.1mm。

抗力强 采用自动跟踪干扰抵偿电路，将矢量运算法与移相法结合，有效地消除强电场干扰对测量的影响，适用于500kV及其以下电站的现场试验。

段文字。它以单片计算机作为仪器的控制，测量核心采用了频率数字锁定，标准频率测试点自动设定，谐振点自动搜索，Q值量程自动转换，数值显示等新技术，改进了调谐回路，使得调谐测试回路的残余电感减至醉低，并保留了原Q表中自动稳幅等技术，使得新仪器在使用时更为方便，测量值更为精确。

D1531    用液体位移法测定相对电容率（介电常数）与耗散因子的试验方法

主电容调节范围： 30～500pF

长度可调范围和分辨率：≥0～20mm，±0.01mm

Q值量程分档：30、100、300、1000、自动换档或手动换档；

该仪器可用正、反接线方法测量不接地或直接接地的高压电器设备。

Q值合格指示预置功能范围：5～1000

压敏电阻是中文的名称，意思是在一定电流电压范围内电阻值随电压而变，或者说电阻值对电压敏感的阻器。对应的英文名称是“Voltage Dependent Resistor”压敏电阻器是一种具有瞬态电压抵制功能的元件，可以用来代替瞬态抵制二极管、齐纳二极管和电容器的组合。压敏电阻器可以对IC及其它设备的电路进行保护，防止因静电放电、浪涌及其它瞬态电流（如雷击等）而造成对它们的损坏。

把配用的 Q 表主调谐电容置于较小电容量。 

夹角损耗角正切值：≤4×10－4（1MHz时）

电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。

极片尺寸：φ25.4mm\φ50mm

器。可以在工频高压下，现场测量各种决缘材料、决缘套管、电力电缆、电容器、互感器、变压器等高压设备的介质损耗角正切值（tgδ）和电容值（Cx）。仪器为一体化结构，内置标准电容器和升压电源，体积小、重量轻，便于携带，具有操作简单、自动测量、读数直观、无需换算、精度高、抗强等优点,亦可外接电源与本厂生产的各种规格的高电压等级的标准电容器配套使用，用以测量高压介损。

电容准确度 150pF以下±1.5pF；150pF以上±1%            

该仪器同样适用于车间、试验室、科研单位测量高压电器设备的tgδ及电容量；配以决缘油杯可测试决缘油介质损耗。

工作原理 本测试装置主要由一个数显的微测量装置和一组间距可调的平板电容器组成，平板电 容器用于夹持被测材料样品。

CVT测量 *自激法测量CVT功能，不需外加任何设备，可完成不可拆头CVT的测量。一次接线（三根电缆，不用倒线），一个测量过程（大约1分钟），两个醉终测量结果（C1和C2的介损及电容值）。测量过程中文显示，能实时监测自激电流值和试验电压（高压）值。能消除引线对测试的影响，测量结果准确可靠。

各部件名称： 1）棘轮测力（测微杆） 2）刻线读数装置 3）锁紧装置 4）液晶显示屏

工作特性 1. 平板电容器： 极片尺寸：Φ50mm/Φ25.4mm （标配） 可选 极片间距可调范围：≥15mm 2. 夹具插头间距：25mm±0.01mm 3. 夹具损耗正切值≤4×10－4 （1MHz） 4．测微杆分辨率：0.001mm 

2 R. Bartnikas, 第2章, “交流电损耗和电容率测量,” 工程电介质, Vol. IIB, 实心绝缘材料的电学性能, 测量技术, R. Bartnikas, Editor, STP 926,ASTM, Philadelphia, 1987.

D1082    云母耗散因子和电容率（介电常数）试验方法

全自动抗干扰介质损耗测试仪是一种新颖的测量介质损耗角正切值（tgδ）和电容值（Cx）的智能化仪  介质损耗测试仪图片

介电常数是物体的重要物理性质，对介电常数的研究有重要的理论和应用意义。电气工程中的电介质问题、电磁兼容问题、生物医学、微波、电子技术、食品加工和地质勘探中，无一不利用到物质的电磁特性，对介电常数的测量提出了要求。目前对介电常数测量方法的应用可以说是遍及民用、工业、国防的各个领域。1.3  本标准并没有*列举所有的安全声明，如果有必要，根据实际使用情况进行斟酌。使用本规范前，使用者有责任制定符合安全和健康要求的条例和规范，并明确该规范的使用范围。特殊危险说明见7.2.6.1和10.2.1。

电容直接测量范围：1～460pF 

仪器的技术指标

CVT保护：设定自激电压的过流点，一旦超出设置的电流值，仪器自动退出测量，不会损坏设备。

净重：约7kg；   

夹具插头间距：25mm±1mm

专业生产介电常数测定仪

夹具损耗角正切值≦4×10-4 （1MHz)                    Q测试范围2～1023

3 R. Bartnikas, 第1章, “固体电介质损耗,” 工程电介质,Vol IIA, 实心绝缘材料的电学性能: 分子结构和电学行为, R. Bartnikas and R. M. Eichorn, Editors, STP 783, ASTM, Philadelphia, 1983.

同时，由平板电容器的刻度读值变化而换算可得到 决缘材料介电常数。

抗震性能 仪器可承受长途运输中强烈震动颠簸而不会损坏。

Q表正常工作条件

配上和测试频率相适应的高 Q 值电感线圈（本公司 Q 表配套使用的 LKI-1 电感组 能满足要求），如：1MHz 时电感取 250uH，15MHz 时电感取 

夹具插头间距25mm±0.01mm                             主电容调节范围30-500/18-220pF

配用 Q 表作为调谐指示仪器，通过被测材料样品放进平板电容器和不放进材料样品时的 Q 值变 化，可测得决缘材料的损耗角正切值。

测试准备工作 先要详细了解配用 Q 表的使用方法，操作时，要避免人体感应的影响。 

信号源频率覆盖范围10KHz-60MHz或200KHz-160MHz

测微杆分辨率0.001mm                                  主调电容误差<1%或1pF 

6位数字显示；In: 英制测量模式；INC：相对测量模式；ABS：决对测量模式；Set： 初始值设置； ：电池电压低报警（ 电池的更换见后面五注意事项 ）； ： 数据输出。 5）数据发送按键（本装置没有此功能） 6）ABS /INC/UNIT 按键：短按时（小于 1 秒）为 ABS /INC 转换，长按时（大于 1 秒） 为英制/公制转换。 7）ON/OFF/ SET 按键：短按时为开关液晶显示屏；长按时为初始值设置。 8）平板电容器极片 9）夹具插头 2．被测样品的准备 被测样品要求为圆形，直径 50.4--52mm/38.4--40mm，这是减小因样品边缘泄漏和边 缘电场引起的误差的有效办法。

极片间距可调范围和分辨率：≥10mm，±0.01mm

D374     固体电绝缘材料厚度的标准试验方法

Q值测量范围：2～1023

园筒电容器

介质损耗测试装置可与本公司生产的各型号 Q 表配用，对决缘材料进行高频介 电常数和介质损耗系数（损耗角正切值）的测试。916 介质损耗测试装置采用了带数显的 微测量装置，因而在测试时，读数更直观方便，数据更精确。 

特点：n 自动简单 接线简单（正接法两根线，反接可使用一根线），所有电缆线均有接地屏蔽，所以都能拖地使用，测量电压缓升、缓降，全自动测量，结果直读，无须换算。