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上盖板back up plate 日钢JSW/名机MEIKI真空压膜机MVLP α 500/600
面议JSW真空整平机MVLP500600-IIW 真空气囊
面议JSW真空压膜机 张力组件
面议上盖板back up plate JSW真空整平机 MVLP500/600-IIW
面议JSW真空压膜机 压力反应器PRESSURE SWITCH
面议真空压膜机红色缓冲垫PI SHEET
面议真空压膜机布纹缓冲垫RUBBER SHEET
面议JSW真空整平机 PET膜筒锁扣
面议JSW真空压膜机PET膜筒锁扣
面议JSW真空整平机 连压力反应器PRESSURE SWITCH
面议东丽氟膜
面议JSW日钢真空压膜机 MVLP@500/600下盘加热器HEATER
面议J-Ras离子迁移试验装置ECM-500
设备简介:
离子迁移实验装置是一种信赖性试验设备,原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压(BIAS VOLTAGE),
经过长时间的测试(1~1000 小时)并观察线路是否有瞬间短路的现象发生,并记录阻抗变化状况,故又
叫做 CAF 试验或绝缘电阻试验箱,或者是OPEN/SHORT试验,我们将其统称为绝缘劣化试验。
性能优势:
1.具备高、低电压测试自动切换功能,电压稳定,精度高(±〔0.3%(F.S.)+0.5〕V (计测偏压精度))
2.各通道可以独立设定不同电压
3.每个通道均有电流过载保护,可保护设备及测试样品
4.模组化设计,轻便,占地小,易维护
5.TRIAXIAL三重隔离线设计,可有效屏蔽干扰信号
6.可以搭配恒温恒湿箱、快速温变箱(有湿度)、高加速试验箱HAST测试使用。
Specitications规格参数 项目 规格·性能·其他 框 型式 ECM-500/40-n (n:Channel数) ECM-500/100-n (n:Channel数) 筐体型式 40CH 型(4计测组合) 100CH型 (10计测组合) 筐体寸法 265Wx330.3Dx405H(突起部除外) 417.4Wx330.3Dx405H(突起部除外) 计 计测电阻值范围 2kΩ~20TΩ 直流偏压输出 电压范围 2组范围 (1.0~50.0V, 50.5~500.0V) 输出电流 700ua/ch 可调度 0.05V(1~50V)、0.5V(50.5~500V) 直流偏压量测 计测范围 2组范围 (1~54V, 55~540V) 计测分解能 0.1V~(整数+小数点以下1行表示) 量测速度 50msec/CH 电流计测 计测能力 5组范围 (1000uA, 50uA, 2.5uA, 125nA, 6.25nA) 异常侦测能力 侦测速度 小于100us CPU 数据收录 试验制御单位 1 组 (5CH) 收录间隔(定期) 1分~60分
体
测
组
合
组
合