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微伏级输出任意波信号发生器,微伏级信号源,微小信号发生器
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一、概述
SHSZ82型数字式四探针测试仪(片状薄层微小电阻测试仪)是运用四探针测量原理的多用途综合测量装置,SHSZ82片状薄层微小电阻测试仪(数字式四探针测试仪)可以测量片状、块状半导体材料的径向和轴向电阻率,测量扩散层的薄层电阻(亦称方块电阻)。SHSZ82片状薄层微小电阻测试仪(数字式四探针测试仪)换上特制的四探针测试夹具,还可以对金属导体的低、中值电阻进行测量。
SHSZ82片状薄层微小电阻测试仪(数字式四探针测试仪)由主机、测试架等部分组成,测试结果由数字表头直接显示。主机主要由高灵敏度直流数字电压表和高稳定度恒流源组成。测试探头采用宝石导向轴套和高耐磨碳化钨探针制成,故定位准确、游移率小、寿命长。
SHSZ82片状薄层微小电阻测试仪(数字式四探针测试仪)具有测量精度高、灵敏度高、稳定性好、测量范围宽、结构紧凑、使用方便等特点。
SHSZ82片状薄层微小电阻测试仪(数字式四探针测试仪)适用于半导体材料厂、半导体器件厂、科研单位、高等院校对半导体材料的电阻性能的测试。
SHSZ82片状薄层微电阻测试仪工作条件为:
温 度: 23℃±
相对湿度: 60%~70%
工作室内应无强电磁场干扰,不与高频设备共用电源。
⑵ 扩散层的方块电阻测量
电流\电阻\电压 | 0.2mV | 2mV | 20mV | 200mV | 2V |
100Ma | 2mΩ | 20mΩ | 200mΩ | 2Ω | 20Ω |
10mA | 20mΩ | 200mΩ | 2Ω | 20Ω | 200Ω |
1mA | 200mΩ | 2Ω | 20Ω | 200Ω | 2kΩ |
100μA | 2Ω | 20Ω | 200Ω | 2kΩ | 20kΩ |
10μA | 20Ω | 200Ω | 2kΩ | 20kΩ | 200kΩ |
电阻率范围(Ω-cm) | 电流档 |
<0.012 | 100mA |
0.008-0.6 | 10mA |
0.4-60 | 1MA |
40-1200 | 100μA |
>800 | 10μA |
电流\电阻率\电压 | 0.2mV | 2mV | 20mV | 200mV | 2V |
100mA | 10-4~10-3 | 10-3 | | | |
10mA | | 10-3~10-2 | 10-1 | | |
1mA | | 10-1 | 1~20 | 10~50 | 102~103 |
100μA | | | | 200~500 | 103~104 |
10μA | | | | | 105 |
电压量程 | 2V | 200mV | 20mV | 2mV | 0.2mV |
电流量程 | 100mA | 10mA | 1mA | 100µA | 10µA |
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