半导体参数CV测试仪
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普赛斯半导体参数CV测试仪

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1000 1

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2024-01-02 13:09:08
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武汉普赛斯仪表有限公司

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产品简介

普赛斯功率器件CV测试仪主要由源表、LCR 表、矩阵开关和上位机软件组成。LCR表支持的测量频率范围在0.1Hz~1MHz,源表(SMU)负责提供可调直流电压偏置,通过矩阵开关加载在待测件上。半导体参数CV测试仪认准普赛斯仪表

详细介绍

半导体参数CV测试仪优势


CV测试曲线图.jpg

典型配置

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半导体参数CV测试仪系统方案

普赛斯半导体功率器件C-V测试系统主要由源表、LCR表、矩阵开关和上位机软件组成LCR表支持的测量频率范围在0.1Hz~1MHz源表(SMU)负责提供可调直流电压偏置通过矩阵开关加载在待测件上

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进行 C-V 测量时,通常在电容两端施加直流偏压,同时利用一个交流信号进行测量。一般使用的交流信号频率在10KHz到1MHz之间。所加载的直流偏压用作直流电压扫描,扫描过程中测试待测器件待测器件的交流电压和电流,从而计算出不同电压下的电容值


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