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接触式局部快速温变仪
接触式高低温设备是以色列MechanicalDevices公司研发的针对芯片可靠性测试的专用设备，通过测试头与待测器件直接贴合的方式实现能量传递，与传统气流式高低温设备（热流仪、温箱等）相比具有升降温效率高，操作简单方便，体积小巧，噪音低等特点。CTC温度系统提供一种高度敏感，热传感路径，快速感应温度到DUT上。这种高可靠的系统使用一个的温度探头与被测的IC或其他器件直接连接，使用强力制冷技术...... 参考价面议 -
双层加速寿命试验机
特点1. 高效的双箱体设计，海拓*的HAST设备集高温高湿85℃85%RH、PCT、HAST功能于一体2. 程式/定值模式可相互切换3. 采用海拓研发订制的控制器，彩色10寸LCD显示屏内容丰富，具有多种功能4.圆型内箱,SUS316L不锈钢（表面电解抛光）圆型试验内箱结构,符合工业安全容器标准,可防止试验中结露滴水设计5.packing设计使门与箱体更紧密结合,与传统挤压式不同,可延长pa...... 参考价面议 -
HAST加速寿命试验机
特点加速寿命试验机（HAST）广泛应用于集成电路/微电子/IC等领域，其试验目的是提高环境应力，如温度与工作应力施加给产品的电压/负荷等，加快试验过程，缩短产品或系统的寿命试验时间。用于调查分析被测试样品何时出现的磨耗和使用寿命的问题，使用寿命的故障。分布函数呈现什么样的形状，以及分析失效率上升的原因所进行的试验。 参考价面议 -
加速寿命试验机3
加速寿命试验机3 参考价面议 -
NAND FLASH高低温筛选设备机柜
型号HESS-465-60-3F-1.3KW容量1-200颗尺寸L185cm*W87.5cm*H183cm工作温度-40℃～+85℃产品概述可同时测试1~200颗芯片，宽温测试、可同时测25种不同颗粒支持测试命令类型基础测试支持测试范围可选起始测试块数、块间间隔、循环数、测试时间等个性化设置已支持闪存协议类型ONFI/toggle接口颗粒已支持测试封装规格BGA152、BGA132（可定制扩展）支...... 参考价面议 -
双层HAST
特点1. 高效的双箱体设计，海拓*的HAST设备集高温高湿85℃85%RH、PCT、HAST功能于一体2. 程式/定值模式可相互切换3. 采用海拓研发订制的控制器，彩色10寸LCD显示屏内容丰富，具有多种功能4.圆型内箱,SUS316L不锈钢（表面电解抛光）圆型试验内箱结构,符合工业安全容器标准,可防止试验中结露滴水设计5.packing设计使门与箱体更紧密结合,与传统挤压式不同,可延长pa...... 参考价面议 -
加速寿命试验机PCT
加速寿命试验机PCT产品描述：特点智慧型饱和蒸汽温度值，人力控制装置与饱和蒸汽压力检知 参考价面议 -
加速寿命试验机2
加速寿命试验机产品描述：特点加速寿命试验机（HAST）广泛应用于集成电路/微电子/IC等领域，其试验目的是提高环境应力，如温度与工作应力施加给产品的电压/负荷等，加快试验过程，缩短产品或系统的寿命试验时间 参考价面议 -
加速寿命试验机
加速寿命试验机产品描述：特点加速寿命试验机（HAST）广泛应用于集成电路/微电子/IC等领域，其试验目的是提高环境应力，如温度与工作应力施加给产品的电压/负荷等，加快试验过程，缩短产品或系统的寿命试验时间 参考价面议 -
超快速冷热冲击试验机/热流仪/快速降温仪4
超快速冷热冲击试验机/热流仪/快速降温仪产品描述：广泛应用于5G通信、半导体、芯片、传感器等领域 参考价面议 -
带电老化测试箱（带洁净功能）
带电老化测试箱（带洁净功能）产品描述：特点：1.万级洁净 参考价面议 -
定值/程式 TEC 冷热冲击机
定值/程式TEC冷热冲击机产品描述：产品广泛用于IC、晶圆、半导体、5G通讯模块和电子特性、测试和故障分析桌面型温度系统提供一种高度敏感，热传感路径，快速感应温度到DUT上 参考价面议