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阻抗分析仪 6632-3/3S
益和6632阻抗分析仪，提供 5 种频率选项（10 Hz 至3/5/10/20/30 MHz），可在不同测量条件下进行高速连续测量。其等效电路分析功能支持7种不同的参数模型(三组件、四组件)，可协助客户仿真组件的等效参数值。并支持RS232、 USB 、LAN和 GPIB PC联机能力。
6632阻抗分析仪，支持各式各样的测试治具与配件，例如可搭配介电系数治具，使PCB板设计人员能充分了解材料的介电特性以便精准的Layout线路，减少产品不良的情况发生，导磁系数治具，各种环形磁芯或铁氧体磁芯及电磁屏蔽涂层材料的导磁系数量测，和悬臂治具，各种尺寸贴片组件或电路板上组件阻抗量测。让量测步骤变得更为简易及快速。6632为分析电子组件、和材料特性*的量测神器。
量测精准度及多功能性为种不同类型的工作和应用程序高要求，用户包括半导体、组件厂商、研发单位、进料检验、实验室、学生。
信号源频率范围： DC, 10Hz ~ 3 / 5 / 10 / 20 / 30MHz
信号源位准： 10mV ~ 2V / 200μA ~ 20mA
基本阻抗量测精度 ±0.08%
自动电平控制（ALC）功能
输出阻抗25Ω/100Ω 可切换
除基本量测及绘图分析功能，更支持介电及导磁系数量测
超快量测速度 < 3ms
开路／短路／负载校正功能
电表模式下多可选择四个组件参数，电感值及DCR 值可同时量测和显示
自动组件分类： 比较器功能及Handler 接口BIN 分类功能
内建直流偏置电压 -12到+12V
USB/ GPIB/ LAN/RS232 接口，实现快速自动化与数据存取功能
可选购 PC 联机数据分析软件
超低功耗 < 30W，无风扇设计，*
规格
| 测试频率 | 6332-3, 6332-3G | 10Hz ~ 3MHz |
| 6332-5, 6332-5G | 10Hz ~ 5MHz | |
| 6332-10, 6332-10G | 10Hz ~ 10MHz | |
| 6332-20, 6332-20G | 10Hz ~ 20MHz | |
| 6332-30, 6332-30G | 10Hz ~ 30MHz | |
| 小分辨率 | 100mHz, 6位频率输入 | |
| 准确度 | 7 ppm±100mHz | |
| 基本测量准确度 | ± 0.08% | |
| AC 量测 | 测试信号电压范围 | 10mV - 2Vrms |
| 电压小分辨率 | 1mV | |
| 准确度 | ALC ON：6％ * 设定电压 ±2mV ALC OFF：10％ * 设定电压 ±2mV | |
| 测试信号电流范围 | 200µA - 20mArms | |
| 电流小分辨率 | 10µA | |
| 准确度 | ALC ON：6％ * 设定电流 ± 20µA ALC OFF：10％ * 设定电流 ± 20µA | |
| 测量时间 | < 3mS | |
| 输出阻抗 | 可切换25Ω、100Ω (标称值) | |
| 测试参数 | |Z|(阻抗)、|Y|(导纳)、θ(相位角)、X(电抗)、R(串并联电阻)、G(电导)、B(电纳)、L(电感)、D(损耗因子)、Q(品质因子)、DCR(直流电阻) 、C(电容)、 Vdc-Idc(直流电压电流)、ESR(等效串联电阻) 、ε (相对介电系数)、μr (相对导磁系数) | |
| 测量模式 | Meter 模式、图形扫描*，多步列表 *图形扫描为G系列机型功能 | |
| 校准功能 | 开路、短路、负载 | |
| 等效电路 | 串联、并联 | |
| 等效电路模型分析 (选购) | 三组件 (4 种模型)、四组件(3 种模型) | |
| 多步列表测试 | 50组多步测试设定（每组15个测试步骤） | |
| 内建直流偏置电压 | -12到+12V, 100Hz to 30MHz | |
| PC LINK/CPK报表环境 | 选购 | |
| 内部储存内存 | 100组LCR仪器设定文件 | |
| 外部USB内存 | LCR仪器设定文件、BMP图像、测试数据 | |
| 界面 | I/O 界面 | Handler |
| 串行通讯接口 | USB、RS232 | |
| 并行通讯接口 | GPIB | |
| 显示器 | 7.0”TFT, 800x480彩色屏幕 | |
| 操作环境 | 温度: 10℃ ～ 40℃, 湿度: ≦80%RH | |
| 电源要求 | 电压 | 90V ～ 264Vac |
| 频率 | 47Hz ~ 63Hz | |
| 功耗 | 低功耗设计：大30W (标称值) | |
| 体积 (W*H*D) | 359x147x343 mm | |
| 重量 | 3.95 kg | |
阻抗分析仪 6632-3/3S参数量测范围
| |Z| | 0.000 mΩ to 9999.99 MΩ |
| R, X | ± 0.000 mΩ to 9999.99 MΩ |
| |Y| | 0.00000 uS to 999.999 kS |
| G, B | ± 0.00000 uS to 999.999 kS |
| θRAD | ± 0.00000 to 3.14159 |
| θDEG | ± 0.000° to 180.000° |
| Cs, Cp | ± 0.00000 pF to 9999.99 F |
| Ls, Lp | ± 0.00 nH to 9999.99 kH |
| D | ± 0.00000 to 9999.99 |
| Q | ± 0.00 to 9999.99 |
| Δ | ± 0.00% to 9999.99% |
| Rdc | 0.00 mΩ to 99.9999 MΩ |
| εr'' | 0 to 100000 |
| μr'' | 0 to 100000 |
应用范围
| 被动组件 | 电容器、电感器、电阻器、变压器、陶瓷谐振器、石英晶体 |
| 半导体组件 | 变容二极管之 cv 特性分析、二极管 |
| 介电质材料 | 塑料、陶瓷、印刷电路板的电容率和损耗正切评估 |
| 导磁材料 | |
| 其他组件 | 电路板上的组件阻抗评估 |
标准配件
高频DIP组件测试治具(FX-0000C6)
选购配件 凯尔文测试夹线含BNC Box(F423906A)
BNC测试延长线(F6630/A/B/C)
介电常数治具(FX-0000C7)
导磁系数治具(FX-0000C8)
材料测试治具(FX-0000C9)
高频精密型下压式SMD测试治具(FX-000C10)
高频精密行镊子式测试线夹(FX-000C11)
高频精密型SMD测试治具(FX-000C12)
