E+H分体式超声波探头FDU96 超声波物位计

FDU96E+H分体式超声波探头FDU96 超声波物位计

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具体成交价以合同协议为准
2023-07-24 09:22:48
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深圳市安一泰科科技有限公司

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产品简介

E+H分体式超声波探头FDU系列超声波传感器适用于粉末、固体块料的连续性、非接触、免维护物位测量。用于温度传感器行程时间时间的校正,当温度发生变化时,能进行检测。当发生恶劣天气时,传感器和变送器可以分开安装。超声波探头在光滑表面上具有很高增益和非常好的分辨率,用于有保护膜的探头不适合于有锋利边缘的物体检测。带可更换保护膜的直探头,即使是在粗糙或轻微弯曲的表面上,由于柔性的抗磨损保护膜而具有稳定的。

详细介绍

超声波探头主要分为:直探头,斜探头,带曲率探头,聚焦探头,表面波探头,水浸探头,双晶探头,测 厚 ,高温探头等。进行垂直探伤用的单晶片探头,直探头产生的超声波为垂直于探头表面的纵波声束。

E+H分体式超声波探头FDU系列工作原理

E+H分体式超声波探头FDU系列超声波探头主要材料有压电晶体(电致伸缩)及镍铁铝合金(磁致伸缩)两类。电致伸缩的材料有锆钛酸铅(PZT)等。压电晶体组成的超声波传感器是一种可逆传感器,它可以将电能转变成机械振荡而产生超声波,同时它接收到超声波时,也能转变成电能,所以它可以分成发送器或接收器。有的超声波传感器既作发送,也能作接收。

E+H分体式超声波探头FDU系列技术参数

1.压电应变常数d33:

d33=Dt/U在压电晶片上加U这么大的应力,压电晶片在厚度上发生了Dt的变化量,d33越大,发射灵敏度越高。

2.压电电压常数g33:

g33=UP/P在压电晶片上加P这么大的应力.在压电晶片上产生UP这么大的电压,g33越大,接收灵敏度越高。

3.介电常数e:

e=Ct/A[C-电容、t-极板距离(晶片厚度)、A-极板面积(晶片面积)];

C小→e小→充、放电时间短.频率高。

4.机电偶合系数K:

表示压电材料机械能(声能)与电能之间的转换效率。

对于正压电效应:K=转换的电能/输入的机械能。

对于逆压电效应:K=转换的机械能/输入的电能.

晶片振动时,厚度和径向两个方向同时伸缩变形,厚度方向变形大,探测灵敏度高,径向方向变形大,杂波多,分辨力降低,盲区增大,发射脉冲变宽.(讲义附件16、19题部分答案)。

声 速: 324.0 M/S 工件厚度: 16.00MM 探头频率: 2.500MC

探头K值: 1.96 探头前沿: 7.00MM 坡口类型: X

坡口角度: 60.00 对焊宽度: 2.00MM 补 偿: -02 dB

判 废: +05dB 定 量: -03dB 评 定: -09 dB

焊口编号: 0000 缺陷编号: 1. 检测日期: 05.03.09

声 速: 324.0 M/S 工件厚度: 16.00 MM 探头频率: 5.00 MC

探头K值: 1.95 探头前沿: 7.00 MM 坡口类型: X

坡口角度: 60.00 对焊宽度: 2.00 MM 补 偿: -02 dB

判 废: +05 dB 定 量: -03 dB 评 定: -09 dB

焊口编号: 0000 缺陷编号: 1. 检测日期: 05.03.09

5.机械品质因子qm:

qm=E贮/E损,压电晶片谐振时,贮存的机械能与在一个周期内(变形、恢复)损耗的能量之比称……损耗主要是分子内摩擦引起的。

qm大,损耗小,振动时间长,脉冲宽度大,分辨力低。

qm小,损耗大,振动时间短,脉冲宽度小,分辨力高。

6.频率常数Nt:

Nt=tf0,压电晶片的厚度与固有频率的乘积是一个常数,晶片材料一定,厚度越小,频率越高. (讲义附件16、19题部分答案)。

7.居里温度Tc:

压电材料的压电效应,只能在一定的温度范围内产生,超过一定的温度,压电效应就会消失,使压电效应消失的温度称居里温度(主要是高温影响)。

8.超声波探头的另一项重要指标:信噪比---有用信号与无用信号之比必须大于18 dB。

E+H分体式超声波探头FDU系列精准度更好、使用、安装更加方便我司为了用户的方便常年备有他们的库存,价格优势明显货期短,当天4点前都可以发货。如果您有需要可以来电详谈。我们将竭诚为您服务​

 


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