能量色散型X荧光光谱仪

Ux-550能量色散型X荧光光谱仪

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2024-11-07 10:39:04
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苏州英莳特仪器科技有限公司

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产品简介

●满足RoHS/ELV/WEEE、无卤、EN71等环保指令管控●采用全原装美国进口Si-PIN电制冷探测器

详细介绍

● 满足RoHS/ELV/WEEE、无卤、EN71等环保指令管控

●  采用全原装美国进口Si-PIN电制冷探测器,无需液氮

●  一机多能,同一软件界面还可实现金属镀层厚度以及合金成分分析

● 业内提供开放式工作区,用户根据需求可自行增加测试元素、测试工作区,无需厂家

产品概述

Ux-550 能量色散X荧光光谱仪是一款既可应对RoHS/ELV/WEEE、无卤、EN71等环保指令管控又可检测金属镀层厚度以及合金成分的多功能机型,软件精心设计的开放式工作曲线功能,无需厂家,用户可根据测试需求自行增加测试元素、新建测试工作区,特别适用于多材料的工厂制程控制。

应用领域

用于RoHS/WEEE/ELV指令管控的产品:电子电器、汽车行业、信息技术及通讯设备、电动工具、玩具等设备

用于无卤指令管控的产品:含有Cl、Br等元素作阻燃剂的产品

用于铜合金、铁合金、铝合金、钛合金、高温合金及各种混杂合金等合金材料内元素成分分析和含量测试

用于单、双层金属电镀层厚度检测

性能优势

快速、无损分析

通过X射线无损激发被测物元素,经探测器(Si-PIN)采集其荧光强度,软件只需数秒即可得到精准的元素含量、镀层厚度和基材成分

开放式工作曲线,一机多能

业内提供开放式工作区,无需厂家,用户可根据测试需求增加测试元素和新建测试工作区,软件除检测RoHS有害元素外,还可对合金成分、金属镀层厚度检测。

全谱图对比,实时监测物料变化

通过全谱图对比功能,用户很快就能识别同种物料是否发生材质(成分、镀层)变化,防止材料改变给产品质量造成影响。

技术规格:

序号

项目

参数

1

元素范围

S-U元素

2

分析软件

Ux-550 RoHS专用版8.0

3

检出下限

Cd/Cr/Hg/Br≤2 ppm, Pb≤5 ppm, Cl≤50 ppm

4

工作环境

温度 15~30℃ 湿度 ≤85% (不结露)

5

外形尺寸

680(W)x400(D)x390(H)mm

6

样品腔尺寸

小样品腔300*350*75mm,大样品腔:无限制,小于30公斤

7

重    量

约45Kg

8

电    源

AC220V~240V、50Hz

9

额定功率

350W

10

测量时间

120-400S(系统自动调整)



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