平行平晶-0-25 25-50 50-75 75-100 上海思长约光学-上海思长约光学仪器有限公司手机版

详细介绍

平行平晶

干涉条纹

平面平晶

一、用途：

平面平晶是用于以干涉法测量块规，以及检验块规、量规、零件密封面测量仪器及测量工具量面的研合性和平面度的工具。适用于光学加工厂、厂矿企业计量室、精密加工车间、阀门密封面现场检测使用，也适用于高等院校、科学研究等单位做平面度等检测。

二、技术参数

1、平面平晶 POF 标准规格尺寸：

规格	30mm	45mm	60mm	80mm	100mm	150mm	200mm	250mm
直径	Φ30	Φ45	Φ60	Φ80	Φ100	Φ150	Φ200	Φ250
高度	15mm	15mm	20mm	20mm	25mm	30mm	40mm	45mm

2、平面平晶制成精度：1级

3、平面平晶工作面的平面度偏差允许值为：

直径为 30至60mm 1级平晶 0.03μm

直径为 80至150mm 1级平晶 0.05μm

更大尺寸平面平晶平面度偏差允许值，根据国家标准。 (需要定做）

4、平面平晶工作面的局部偏差允许值为： 0.03μm

5、平面平晶测量工作应在室温2 0℃±3℃条件下保持数小时后进行。

注：Ф200mm以上标准平面平晶、环形平面平晶需定做。

产品规格︰

*平行平晶是以光波干涉原理为基础，利用平晶的测量面与试件的被测量面之间所出现的干涉条纹来测量被测量面的误差程度。
*平行平晶具有高精度的平面性和平行性。
*平行平晶用于检定千分尺、杠杆千分尺、杠杆卡规和千分尺卡规等量具测量面的平面度和两相对测量的平行度。平行平晶共分四个系列，每个系列各分六组，每组四块。
功能：平行平晶用于干涉法测量千分尺、卡规和千分表等测量面平面度、平面平行度。
产品规格：
每组平行平晶共四块，分四个尺寸系列组
测量面上平面度偏差： <0.1μm
平面度局部偏差： >0.03μm
测量面平行度误差：组Ⅰ系列允差值：0.06μm
组Ⅱ、Ⅲ系列允差值：0.08μm
组Ⅳ系列允差值：0.1μm

组Ⅰ	平行平晶	0－25mm	4块/组
组Ⅱ	平行平晶	25－50mm	4块/组
组Ⅲ	平行平晶	50－75mm	4块/组
组Ⅳ	平行平晶	75－100mm	4块/组

平行平晶尺寸系列表

组号	0－25	25－50	50－75	75－100
1	15.00，15.12 15.25，15.39	40.00，40.12 40.25，40.37	65.00，65.12 65.25，65.37	90.00，90.12 90.25，90.37
2	15.12，15.25 15.37，15.50	40.12，40.25 40.37，40.50	65.12，65.25 65.37，65.50	90.12，90.25 90.37，90.50
3	15.25，15.37 15.50，15.62	40.25，40.37 40.50，40.62	65.25，65.37 65.50，65.62	90.25，90.37 90.50，90.62
4	15.37，15.50 15.62，15.75	40.37，40.50 40.62，40.75	65.37，65.50 65.62，65.75	90.37，90.50 90.62，90.75
5	15.50，15.62 15.75，15.87	40.50，40.62 40.75，40.87	65.50，65.62 65.75，65.87	90.50，90.62 90.75，90.87
6	15.62，15.75 15.87，16.00	40.62，40.75 40.87，41.00	65.62，65.75 65.87，66.00	90.62，90.75 90.87，91.00

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