从1974年引入薄膜技术研发薄膜铂热电阻元件，成功解决铂热电阻元件的成本及应用问题起，至今已有30多年的历史，随着照相平板印刷技术的日益发展，薄膜铂热电阻元件近几年的发展突飞猛进。

热效应进行温度测量的，即电阻体的阻值随温度的变化而变化的特性。因此，只要测量出感温热电阻的阻值变化，就可以测量出温度。

隔爆型热电阻通过特殊结构的接线盒，装配式热电偶把其外壳内部爆炸性混合气体因受到火花或电弧等影响而发生的爆炸局限在接线盒内，生产现场不会引超爆炸。隔爆型热电阻可用于具有爆炸危险场所的温度测量。热电阻的测温原理与热电偶的测温原理不同的是，热电阻是基于电阻。

的发展，在很大程度上取决于其核心部件，铂热电阻元件的发展。从传统的云母铂热电阻元件、陶瓷铂热电阻元件、玻璃铂热电阻元件到厚膜铂热电阻元件和薄膜铂热电阻元件，铂热电阻元件的发展方向已转移到膜式结构的产品上，尤其是薄膜铂热电阻元件。

主要技术参数

电气出口:M20x1.5,NPT1/2 精度等级:I 、 II 防护等级:IP65 偶丝直径:Φ0.5 公称压力:常压

量程规格

型号 分度号 测温范围 精度等级 允许偏差

WZPK -200~600 PT100 * -200~600℃时允差±(0.15+0.002|t|)