T802纳米激光粒度仪|纳米粒度分析仪

T802光相关纳米粒度仪
一、产品简介
T802光子相关纳米粒度仪是采用动态光散射原理的纳米粒度仪。其测量原理建立在分散在液体颗粒的布朗运动基础之上，颗粒越小，运动速度越快，颗粒越大，运动速度越慢。它采用HAMAMATSU高性能光电倍增管和我公司研制的高速数字相关器作为核心器件，通过测试某一角度的散射光的变化并求出自相关函数（即扩散系数），根据Stokes－Einstein方程计算出颗粒粒径及分布。它具有快速、高分辨率、重复及准确等特点，同时还具有不破坏、不干扰纳米颗粒体系原有状态的优点，是纳米颗粒粒度测试的选择产品。
二、主要性能特点
*的测试原理 该仪器采用动态光散射原理，其测试方法具有不破坏、不干扰纳米颗粒体系原有状态的特点，从而保证了测试结果的真实性和有效性；
高灵敏度与信噪比 核心部件采用公司CR256数字相关器，它实时完成动态散射光强的采集和自相关函数运算，从而有效地反映不同大小颗粒的动态光 散射信息，为测试结果的准确度奠定基础；
稳定的光路系统 采用光纤技术搭建而成的光路系统，使光子相关谱探测系统不仅体积小，而且具有很强的抗*力，从而保证了测试的稳定性；
高精度恒温控制系统 采用半导体温控技术，温控精度高达±0.2℃，使样品在整个测试过程中始终处于恒温状态，避免温度变化而引起液体黏度及布朗运动速度变化导致的测试偏差，保证测试结果准确度及稳定性。
三、技术参数

规格型号	T802
执行标准	GB/T 19627-2005/ISO 13321：1996 GB/T 29022-2012/ISO 22412：2008
测试范围	1-10000nm（与样品有关）
浓度范围	0.1mg/ml­--100mg/ml(与样品有关)
准确度误差	<1%（国家标准样品D50值）
重复性误差	<1%（国家标准样品D50值）
激光光源	光纤半导体激光器，λ= 532nm，
探测器	光电倍增管（PMT）
散射角	90o
样品池体积	4mL
温控范围	5-40 ℃（精确到0.1℃）
测试速度	<5 Min
体积	480mm*270mm*170mm
重量	12Kg
数字相关器主要参数	自相关通道：256 基线通道：4 小分辨时间：6ns 延迟时间：100ns-10ms（可调） 运算速度：162M/S