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美国博曼(Bowman)Bowman BA-100 Optics 台式X射线荧光(XRF)镀层测厚仪——为您提供高精度、快速简便的镀层厚度测量、元素分析,以及电镀液分析。
Bowman BA-100 Optics 机型采用业界的多孔毛细管光学聚焦装置,有效缩小测量点斑点的同时,可数倍乃至数十倍提高X射线激发强度。
Bowman BA-100 Optics 机型配备大面积的SDD(硅漂移探测器),有效拓展元素分析范围,适应的微区、超薄镀层,以及痕量元素分析需求。
优秀的测试性能、突出的微区测量能力,Bowman BA-100 Optics机型是研究开发、质量管控的XRF镀层厚度及元素成分分析仪器。
微聚焦50瓦Mo靶射线管(其它靶材可选); 小于100um的测量斑点
射线出射点预置于射线管Be窗正
长寿命的射线管灯丝
的预热和ISO温度适应程序
显著提高X射线信号强度
获得较准直器机型数倍乃至数十倍的信号强度
小于100um直径的测量斑点
经过验证,接近的测量精度
常见的镀层应用
PCB行业
Au/Pd/Ni/Cu/PCB
引线框架
Ag/Cu
Au/Pd/Ni/CuFe
半导体行业
Pd/Ni/Cu/Ti/Si-晶元基材
Au/Pd/Ni/Cu/Si晶元基材
线材
Sn/Cu
珠宝、贵金属
10,14,18Kt
元素分析、合金分类、杂质分析、溶液分析、电镀液分析等