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HS810功能特点:
l 高亮度高分辨力彩色液晶显示屏。
l 内置探头位置编码器。
l USB,LAN,VGA输出接口。
l 大容量数据存储空间。
l 支持纵波、横波、导波和表面波等模式。
l 具备A扫、B扫、C扫、CB扫、P扫和TOFD成像。
l 单次扫查能记录长达20米。
l 回放图像记录中每点位置的A扫波形。
l 强化的对活动或冻结的A扫波形信号评估软件。
l 缺陷尺寸和模式分析。
l GB/T4730、EN12668、BS 7706、ASTM、ASME、ENV583 、CEN -14751、NEN 1822、DNV、API、RBIM等标准及新容规、锅规的技术要求
l 可根据用户要求增减TOFD配置,最多可配置10个通道8个探头同时扫查和记录200mm厚度工件。
l 配置便于使用的手动、自动扫查器。
l 配置TOFD探头和PE探头、导波探头。
HS810便携式TOFD双通道超声波检测仪主要技术性能指标
独立工作通道数 | 2、4、6、10 |
最多连接探头 | 10 |
脉冲类型 | 负方波脉冲 |
脉冲前沿 | 15 ns |
脉冲宽度 | 50 ns-1000ns连续可调。 |
工作方式 | 最多10个通道(3对TOFD探头、4路PE) |
阻抗匹配 | 25Ω /500Ω |
扫描范围 | 零界面入射——1400mm钢纵波 |
采样频率/位数 | 125MHZ/12bits |
重复频率: | 25-800Hz。 |
实时平均 | 1-8 |
检波方式: | 数字检波 |
衰减器精度: | <>+1dB/12dB |
工作频率: | 0.5~15 MHz |
声速范围: | 300~20000 m/s |
动态范围: | ≥30dB |
垂直线性误差: | ≤4% |
水平线性误差: | ≦0.3% |
分辨力: | >36dB(5P14) |
灵敏度余量: | >60dB(深200mmΦ2平底孔) |
波形显示方式 | 射频波,检波 (全波、负或正半波),信号频谱(FFT)。 |
成像模式: | 根据选择的操作模式和相应的仪器设置显示B扫、C扫、CB扫、D扫、P扫。 |
直线扫查长度 | 50~20000 mm自动滚屏 |
记录方法 | 原始数据记录 |
离线图象分析: | · 恢复和回放扫查时记录的A扫波形。 · 缺陷尺寸和轮廓。 · 厚度/幅度数据统计分析。 · 记录转换到ASCII/MS Word/MS Excel格式报告。 |
数据报告: | 直接打印校验表、A扫、频谱图、B扫图像、C扫图像、CB图像、TOFD图像、D扫图像、P扫图像。 |
内存: | 1 G |
闪存- Quasi HDD: | 4 G |
输出: | LAN, USB2.0, VGA |
显屏: | 6.5" 高亮真彩色高分辨率 (32 bit) SVGA 640×480 像素 133×98 mm,日光可读 LCD; A扫尺寸 –130×92 mm |
控制: | 前板密封键盘,鼠标,飞梭。 |
兼容外部设备: | USB键盘和鼠标,USB闪存卡,通过USB或LAN打印,通过USB或LAN连接PC,SVGA外接显示器。 |
操作系统: | 仪器在WinCE环境下工作。全兼容在Windows™ 98SE, Windows™ 2000, Windows™ XP,Vista,Win7下工作的外接计算机,外接计算机通过网络或USB连接进行离线数据分析和报告。 |
环境温度: | (-10--40)°C(参考值) |
相对湿度: | (20--95)%RH |
包装: | 进口高强度硬塑箱。 |
尺寸: | 240×160×80 mm含电池 |
重量: | 2.4kg含电池 |