脉冲激光热反射法薄膜导热仪-热分析系统-耐驰科学仪器商贸（上海）有限公司手机版

产品简介

脉冲激光热反射法薄膜导热仪
热反射（Thermo-Reflectance）方法基于超高速激光闪射系统，可测量基片上金属、陶瓷、聚合物薄膜的热物性参数，如热扩散系数（Thermal Diffusivity）、热导率（Thermal Conductivity）、吸热系数（Thermal Effusivity）和界面热阻。

详细介绍

脉冲激光热反射法薄膜导热仪热反射（Thermo-Reflectance）方法基于超高速激光闪射系统，可测量基片上金属、陶瓷、聚合物薄膜的热物性参数，如热扩散系数（Thermal Diffusivity）、热导率（Thermal Conductivity）、吸热系数（Thermal Effusivity）和界面热阻。

由于激光闪射时间仅为纳秒（ns）量级，甚至可达到皮秒（ps）量级，此系统可测量厚度低至10nm的薄膜。同时，系统提供不同的测量模式，以适应于不同的基片情况（透明/不透明）。

该方法符合标准：
JIS R 1689：通过脉冲激光热反射方法测量精细陶瓷薄膜的热扩散系数；
JIS R 1690：陶瓷薄膜和金属薄膜界面热阻的测量方法。

发展简史脉冲激光热反射法薄膜导热仪

1990 年，日本产业技术综合研究所/日本国家*（AIST/NMIJ）发明热反射法，测量薄膜导热性能。
2008 年，AIST 设立 PicoTherm 公司。
2010 年，PicoTherm 公司推出纳秒级热反射系统 NanoTR。
2012 年，PicoTherm 公司推出皮秒级热反射系统 PicoTR。
2014 年，PicoTherm 公司和 NETZSCH 公司建立战略合作。由 NETZSCH 负责 PicoTherm 产品在的销售和服务。