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| 产品介绍： Ux-720新一代国产专业镀层厚度检测仪，采用高分辨率的Si-PIN（或者SDD硅漂移探测器），测量精度和测量结果业界。 采用了FlexFP-Multi技术，无论是生产过程中的质量控制，还是来料检验和材料性能检验中的随机抽检和全检，我们都会提供友好的体验和满足检测的需求。 Ux-720微移动平台和高清CCD搭配，旋钮调节设计在壳体外部，观察移动位置简单方便。 X射线荧光技术测试镀层厚度的应用，提高了大批量生产电镀产品的检验条件，无损、快速和更准确的特点，对在电子和半导体工业中品质的提升有了检验的保障。 Ux-720镀层测厚仪采用了华唯技术FlexFp -Multi，不在受标准样品的限制，在无镀层标样的情况下直接可以测试样品的镀层厚度，测试结果经得起科学验证。 样品移动设计为样品腔外部调节，多点测试时移动样品方便快捷，有助于提升效率。 设计更科学，软硬件配合，机电联动，辐射安全高于国标GBZ115-2002要求。 软件操作具有操作人员分级管理权限，一般操作员、主管使用不同的用户名和密码登陆，测试的记录报告同时自动添加测试人的登录名称。 产品指标： 测厚技术：X射线荧光测厚技术 测试样品种类：金属镀层，合金镀层 测量下限：0.003um 测量上限：30-50um（以材料元素判定） 测量层数：10层 测量用时：30-120秒 探测器类型：Si-PIN电制冷 探测器分辨率：145eV 高压范围：0-50Kv，50W X光管参数：0-50Kv，50W，侧窗类； 光管靶材：Mo靶； 滤光片：专用3种自动切换； CCD观察：260万像素 微移动范围：XY15mm 输入电压：AC220V，50/60Hz 测试环境：非真空条件 数据通讯：USB2.0模式 准直器：Ø1mm，Ø2mm，Ø4mm 软件方法：FlexFP-Mult 工作区：开放工作区 自定义 样品腔：330×360×100mm 标准配件 样品固定支架1支 窗口支撑薄膜：100张 保险管：3支 计算机主机：品牌+双核 显示屏：19吋液晶 打印机：喷墨打印机 可选配件 可升级为SDD探测器 |
