CMI系列成像亮度色度计

CMI系列成像亮度色度计的像素分辨率从200万像素至3600万像素可选，可满足不同应用的测试需要。 参考价面议

LMI系列成像亮度计

LMI系列成像亮度计成像亮度计的分辨率从200万像素到2000万像素可选，可满足不同发光样品的测试要求。 多次曝光和ND中性滤光片的应用，可实现1000000：1的高对比度； 用户可通过ROI功能获取局部图像的数据信息，排除非目标区域的干扰。 参考价面议

自动化传函测试仪KALEO MTF

自动化传函测试仪KALEO MTF可以全自动测试透镜的传递函数、像差等品质，具备自动进样、自动对焦、自动离轴测试等功能，是生产线小批量镜头QC/ 筛选的理想设备。 参考价面议

MTF测试仪

Kaleo MTF for Ramp;D 为更为灵活配置、开放式的MTF测试仪。相对于主要面向产线和QC的自动化传函测试仪，这台仪器更适合研发工程师使用。 参考价面议

光学元件面型测量仪

Kaleo MultiWave 光学元件面型测量仪是一台多波长工作的光学元件面形测试系统，用于替代昂贵、低效、操作复杂的干涉仪，测量光学元件的表面面形、透过波差等参数。 参考价面议

红外光学计量机台

Phasics Kaleo IR 红外光学计量机台让红外光学元件测试变得非常简便。可通过单次测量迅速获得红外的MTF，而无需扫描或繁冗的准直工作；在测量的同时可获取所有的波前畸变。同时Kaleo IR还是一台在NIR，SWIR，MWIR以及LWIR波段的高性价比红外干涉仪，用于测试光学元件面形。 参考价面议

照明及光路组件SID4 R-CUBE

照明及光路组件SID4 R-CUBE为一台集成式照明模块，可配合SID4系列波前位相传感器构成双光路光学元件测试系统。SID4 R-CUBE提供高品质的准直光源照明（可选择透镜构成汇聚/发散光源），并可直接连接至SID4系列传感器。可用于大口径平面及曲面镜片，透镜组件的测试及校准。 参考价面议

光学元件测试分析软件KALEO-T

在镜头品质评价、光学元件测试中，通过严格的数学计算，获取丰富的、准确的结果，并将其成工程界广泛使用的参数、系数，提供与主流光学设计分析软件的匹配与对比，以及符合各领域标准规范，是不可缺乏的一环。光学元件测试分析软件KALEO-T软件应运而生，您只需要轻点鼠标就能得到需要的结果，而将繁冗的分析留给KALEO-T。 参考价面议

科学级sCMOS相机

高灵敏度、高分辨率、高读出速度的科学级sCMOS相机是集高分辨率、高帧速、高量子效率、高灵敏度、高动态范围、宽视场于一身的科学级影像探测器！这就是Andor新近推出的科学级CMOS（sCMOS）相机。 参考价面议

大靶面影像CCD相机

iKon-L 936系列大靶面影像CCD相机，内置一块2048*2048规格的芯片，像素大小为13.5um*13.5um，是兼顾空间分辨率和动态范围两项重要指标的影像应用优化相机。该相机采用5级半导体制冷器，Z低制冷温度可达-100C，暗噪声被压制在Z低的水平，因此在曝光时间较长的应用中，具有的技术优势。 参考价面议

高分辨率光谱仪

SR-750是一款基于典型的Czerny-Turner光路结构的高分辨率光谱仪。结合创新型的光学器件设计，SR-750配合Andor公司的各型高性能光谱专用CCD/ICCD，可以非常方便进行空间多点光谱的同时采集与测量。 参考价面议

常规光谱专用CCD

iDus系列常规光谱专用CCD是销售Z为广泛的光谱配套使用的CCD。本系列CCD具有1024X127和1024X255两种芯片规格，根据不同光谱测量实验对探测灵敏度的要求，提供多达七种不同种类的芯片，从而使本系列的CCD适用于Z为广阔的应用领域，给用户提供Z为多样的产品选择性。 参考价面议