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maxLIGHT无狭缝平场XUV光谱仪和光束分析仪
面议极紫外、X射线等产品现货供应
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面议X射线相衬、暗场成像套件
面议激光驱动高亮EUV光源
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面议X射线微焦源-成像
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面议X射线分辨率测试卡/评估模体
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面议proXAS桌面近边X射线吸收精细结构谱仪
面议公司介绍:
NTT-AT有着多年的X射线、极紫外光学配件的研发与销售经验。在范围内,通过与众多来自同步辐射科学,阿秒科学,高强度物理学等领域的科学研究者开展紧密合作,积累了大量*的设计与制造技术,其产品在业内享有很高的评价。NTT-AT提供的菲涅尔波带片有着高分辨率,高聚光效率等特点,适合被各种辐射光设施使用。另外,分辨率测试卡被当作业界的标准。不只是学术研究,在X射线的检查装置开发现场也被广泛使用。XUV镜片,XUV滤波片不仅对阿秒科学有着帮助,对下一代的光刻研究也有这重要作用。NTT-AT将在XUV,EUV, X线领域给予客户在研发上的帮助。
产品介绍:
用于UV和VUV光电子能谱应用的聚焦透镜 。 所 有 标 准 和 定 制 的 透 镜 都 能 实 现< 5 μ m 角 分 辨 光 电 子 能 谱 实 验( ARPES)。
特点:
粒径为5亚微米的角分辨光电子能谱(ARPES)实验的必要组件。
可提供标准和定制设计。
电 子 能 谱 实 验( ARPES)。
标准模型
AUL-250-190 | AUL-320-177 | |
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透镜材料 | Fused Silica | CaF2 |
透镜镀膜 | AR | AR |
波长 | 190-210nm | 177nm |
入射电子束直径 | 1.7mm | 1.7mm |
焦距 | 250mm@190nm 310mm@210nm | 320mm@177nm |
长度 | ~145mm | ~250mm |
光通量 | 91%@190nm | 93%@177nm |
聚焦性能 | <5μm | ~5μm |
产品图片 |
应用:
角分辨光电子能谱(ARPES)